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薄膜無損檢測 相變溫度和熱膨脹系數(shù)-光功率熱分析儀(OPA)

閱讀:1000        發(fā)布時間:2015-07-08
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    上海昊擴(kuò)科學(xué)器材有限公司

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    本儀器為無損檢測,并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數(shù)。OPA 的研發(fā)成功,一舉*補(bǔ)
了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數(shù)的性技術(shù)空白, 能測量低至5nm的薄膜材料。
本儀器擁有多項發(fā)明,具有獨立知識產(chǎn)權(quán)。

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