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薄膜seebeck 系數(shù)和電阻率 - 薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)

閱讀:1114        發(fā)布時間:2015-07-08
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    上海昊擴科學器材有限公司

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本產品采用準動態(tài)測量法,可同時測量薄膜材料的 seebeck 系數(shù)和電阻率,測溫范圍達到
80K~600K。

硬件特點
動態(tài)法測量 seebeck 系數(shù),避免了靜態(tài)法測量在溫差測量上面的系統(tǒng)誤差,測量更準確

?

采用雙向加熱系統(tǒng),出現(xiàn)測試壞點,可以重新測試
?

seebeck 系數(shù)和電阻率測量測量不共用電壓探針,避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題
?

軟件操作簡單,智能化可實現(xiàn)手動、自動模式

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