哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP 返回列表頁

接觸形式與測頭的選擇

   在接觸測量中，體現(xiàn)被測參數(shù)的表面與量儀之間的接觸形式分為三種:點接觸形式，如球形測頭與平面工件接觸;線接觸形式哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP，如平面測頭與圓柱形工件表面接觸;面接觸形式，如平面測頭與平面工件接觸。

   接觸形式對測量結(jié)果有影響。正確選擇接觸形式的原則是優(yōu)先考慮采用點接觸;在條件不允許或?qū)崿F(xiàn)較為困難時，哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP考慮采用線接觸;不得已時才采用面接觸。

對線紋尺的檢定方法有相對測量法和測量法。在相對測量法檢定線紋尺中，將被檢定線紋尺與比其精度等級高一等的標準線紋尺在線紋尺比較儀上作相對測量，讀出二者刻線間距的長度差，從而確定被檢線紋尺刻線間距的誤差。在測量法檢定線紋尺中，將被檢線紋尺在激光干涉比長儀上進行測量。其實質(zhì)是將被檢線紋尺的刻線間距轉(zhuǎn)變成為三面直角棱鏡的位移，從而使干涉系統(tǒng)中兩相干光束的光程差發(fā)生相應(yīng)的變化，通過光電接收器對干涉條紋明暗交替次數(shù)的檢測，即可求出被檢線紋尺相應(yīng)刻線間距的誤差在線紋量值傳遞系統(tǒng)中，