激光顆粒計數(shù)器是精密光學儀器，用于檢測液體或氣體中的微粒濃度及粒徑分布。其故障多源于光學系統(tǒng)污染、流體系統(tǒng)堵塞、電子元件老化或操作不當。以下從光學、流體、電子、軟件及機械結構五方面解析常見故障及解決方法：

　　一、光學系統(tǒng)故障

　　1. 激光強度衰減或異常

　　現(xiàn)象：散射光信號弱、計數(shù)值偏低、噪聲增大。

　　原因：

　　- 激光管老化(壽命約5000-10000小時)

　　- 光路偏移(如透鏡移位、光纖耦合失效)

　　- 電源模塊輸出不穩(wěn)定

　　解決：

　　① 用功率計檢測激光功率，低于標稱值80%需更換激光管；

　?、?調整光路準直鏡，確保激光焦點落在檢測區(qū)中心；

　?、?檢查電源電壓波動(要求±2%以內)，更換濾波電容。

　　2. 散射光信號失真

　　現(xiàn)象：粒徑分布曲線異常、重復性差。

　　原因：

　　- 檢測透鏡或窗口污染(灰塵、液滴殘留)

　　- 光電探測器靈敏度下降

　　解決：

　　① 使用無水乙醇擦拭透鏡，避免纖維擦拭布殘留；

　?、?替換老化的光電二極管或APD探測器；

　?、?校準光散射角度(如調整傅里葉透鏡位置)。

　　二、流體系統(tǒng)故障

　　1. 樣品流量異常

　　現(xiàn)象：流速過高/過低、氣泡干擾計數(shù)。

　　原因：

　　- 管路堵塞(如過濾器積垢、閥門開度不足)

　　- 蠕動泵老化導致流量波動

　　- 樣品粘度過高或含氣量超標

　　解決：

　?、?反沖清洗管路(正向流動相反方向加壓)，拆解清理過濾器；

　　② 更換蠕動泵管(建議每半年更換)，調整泵頭壓緊力；

　?、?對高粘度樣品預熱至30-40℃降低粘度，超聲脫氣處理。

　　2. 泄漏與交叉污染

　　現(xiàn)象：背景計數(shù)升高、不同樣品測試結果混淆。

　　原因：

　　- 密封圈老化(氟橡膠材質通常每年更換)

　　- 閥體切換不到位

　　解決：

　?、?更換耐溶劑型密封圈(如Kalrez材質)；

　?、?檢查電磁閥動作狀態(tài)，清理閥口結晶物；

　?、?增加吹掃氣體(如氮氣)隔離管路殘留。

　　三、電子系統(tǒng)故障

　　1. 信號采集異常

　　現(xiàn)象：脈沖信號丟失、計數(shù)誤差大。

　　原因：

　　- 前置放大器增益漂移

　　- 數(shù)據(jù)采集卡采樣率不足

　　- 接地不良引入電磁干擾

　　解決：

　?、?校準放大電路(調節(jié)可調電位器至出廠標定值)；

　?、?升級數(shù)據(jù)采集卡(推薦采樣率≥100MS/s)；

　?、?采用單點接地并加裝磁環(huán)抑制高頻噪聲。

　　2. 通信與顯示故障

　　現(xiàn)象：軟件無法連接設備、屏幕花屏。

　　原因：

　　- USB/RS-232接口氧化腐蝕

　　- 工控機內存不足或系統(tǒng)崩潰

　　解決：

　?、?打磨接口氧化層后鍍錫修復；

　?、?重裝操作系統(tǒng)(建議專用工控機)，清理冗余后臺程序。

　　四、軟件與數(shù)據(jù)處理故障

　　1. 計數(shù)結果偏差

　　現(xiàn)象：同一樣品多次測試結果差異超±10%。

　　原因：

　　- 未執(zhí)行背景扣除(如潔凈度未達標)

　　- 延遲校正未開啟(顆粒通過檢測區(qū)時間補償)

　　解決：

　?、?運行空白對照測試，自動扣除背景噪聲；

　　② 啟用動態(tài)延遲校正功能，優(yōu)化時間窗口參數(shù)。

　　2. 數(shù)據(jù)存儲異常

　　現(xiàn)象：測試記錄丟失、文件損壞。

　　原因：

　　- 硬盤壞道或存儲空間不足

　　- 非正常關機導致數(shù)據(jù)寫入中斷

　　解決

　?、?定期磁盤檢查(Chkdsk命令)，轉移數(shù)據(jù)至外部存儲；

　?、?配置UPS電源，禁止直接斷電操作。

　　五、機械結構故障

　　1. 振動導致光路偏移

　　現(xiàn)象：設備移動后測試結果突變。

　　原因：

　　- 運輸或安裝后未重新校準水平

　　- 散熱風扇共振傳導至光學平臺

　　解決：

　?、?使用水平儀調整至≤0.1°傾斜；

　?、?加裝減震墊(如硅膠隔振腳套)。

　　2. 自動進樣器卡滯

　　現(xiàn)象：進樣失敗、樣品溢出。

　　原因：

　　- 傳動齒輪磨損(塑料材質易老化)

　　- 導軌潤滑不足導致阻力增大

　　解決：

　?、?更換金屬齒輪或尼龍耐磨材質；

　?、?定期涂抹食品級潤滑油。