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科研級接觸角測量儀——為表面性質(zhì)研究提供有力支撐

閱讀:1399      發(fā)布時間:2023-5-9
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   近年來,隨著微納米技術(shù)的不斷發(fā)展,研究者們對于微納米界面性質(zhì)的研究需求越來越迫切。而其中一個重要參數(shù)——接觸角的測量,一直是微納米領(lǐng)域研究的難點之一。
  為了解決這一問題,公司推出一款科研級接觸角測量儀,該設(shè)備采用靜態(tài)、動態(tài)兩種測量模式,可以精準地測量微米級甚至納米級物體表面的接觸角,并且具有快速、自動化操作的特點。
 
  科研級接觸角測量儀的關(guān)鍵技術(shù)在于其使用了高精度傳感器和先進的圖像處理算法,能夠在不同液體和固體界面中實現(xiàn)接觸角的測量,并在測量過程中自動記錄數(shù)據(jù)、計算結(jié)果。同時,該設(shè)備還具有多種分析功能,例如表面自由能的計算、表面張力的測量等,可為微納米領(lǐng)域的研究提供更加全面的實驗支持。
 
  工作原理
  科研級接觸角測量儀主要采用光學(xué)法來測量液滴與固體表面的接觸角。其主要原理是利用斯涅爾定律和亥姆霍茲自由能原理來計算接觸角。
  斯涅爾定律指出,當光線從一個密度較高的介質(zhì)射入到密度較低的介質(zhì)中時,會發(fā)生折射。因此,當液滴放置在固體表面上時,它們之間的交界面會產(chǎn)生一些折射和反射。通過對這些折射和反射的測量,可以計算出液滴與固體表面的接觸角。
  亥姆霍茲自由能原理指出,在平衡狀態(tài)下,液體和固體之間的亥姆霍茲自由能最小。因此,當液滴與固體表面達到平衡狀態(tài)時,系統(tǒng)的亥姆霍茲自由能將最小化。根據(jù)這個原理,可以得出液滴與固體表面的接觸角。
 
  該科研級接觸角測量儀已經(jīng)在多個微納米領(lǐng)域的研究實驗中得到應(yīng)用,并取得了不錯的效果。例如,在材料學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的相關(guān)研究中,該設(shè)備能夠幫助研究者更加準確地掌握微米級和納米級材料的表面性質(zhì)和相互作用機制,為新材料開發(fā)、生物醫(yī)學(xué)等應(yīng)用提供技術(shù)支持。

科研級接觸角測量儀

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