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更新時(shí)間:2025-05-11 21:00:06
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LED暫能熱阻量測(cè)系統(tǒng)
說(shuō)明
LED 暫態(tài)熱阻量測(cè)系統(tǒng)是基於先進(jìn)的JEDEC Static Method 測(cè)試方法(JESD51-1),通過(guò)改變電子器件的的輸入功率,使得器件產(chǎn)生溫度變化。在變化過(guò)程中,系統(tǒng)測(cè)試出晶片的瞬態(tài)溫度回應(yīng)曲線(xiàn),僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關(guān)於該電子器件全面的熱特性。本系統(tǒng)採(cǎi)用的是“運(yùn)行中”的即時(shí)測(cè)量的方法,結(jié)合其精密的硬體,可以快速精確捕捉到高訊噪比的溫度瞬態(tài)曲線(xiàn)。
LED暫能熱阻量測(cè)系統(tǒng)
● 本系統(tǒng)由工研院研發(fā)完成,並獲得2014 百大科技研發(fā)獎(jiǎng)(R&D 100 Awards)
● 只需3 分鐘,即可量測(cè)出完整的LED 封裝元件熱結(jié)構(gòu)
● 與T3ster 量測(cè)數(shù)據(jù)*,並可適用於多種封裝LED
● 彈性的夾治具,重現(xiàn)性比T3ster 更好
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