SEM 高溫疲勞試驗機(jī)

  SEM高溫疲勞試驗機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗機(jī)。用于在疲勞試驗過程中動態(tài)時實觀測樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點彎曲疲勞試驗及800℃以下的高溫試驗。

  SEM 高溫疲勞試驗機(jī)特　點：

· 電子顯微鏡SEM與試驗機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
· 可以在利用SEM觀察的同時，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗。
· 可以在常溫～800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
· 試驗過程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。

  SEM 高溫疲勞試驗機(jī)規(guī)　格：

· 試驗載荷：±5KN
· zui大位移：±10mm
· 試驗溫度：室溫～800℃
· SEM分辨率：3.4nm
· 放大倍率：×20～30萬倍
· 觀測范圍：6mm～16mm

  用　途：

    適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測試。