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可選擇的外接探頭種類：
X光機劑量探頭、非介入式mAs探頭、介入式mAs探頭、亮度和照度探頭等。
其它選件：半價層支架、吸收片、軟件、探測器加長電纜、包等。
產品簡介
詳細介紹
X光機劑量儀(配R100探頭)YK-S-300
可選擇的外接探頭種類：
X光機劑量探頭、非介入式mAs探頭、介入式mAs探頭、亮度和照度探頭等。
其它選件：半價層支架、吸收片、軟件、探測器加長電纜、包等。
X光機劑量儀(配R100探頭)YK-S-300
技術參數(shù)：
劑 量：10nGy-200Gy
1.15μR-23kR
劑 量 率：100nGy/s-300mGy/s
11.5μR/s-2070R/min
精 度：±5%
計算機接口：RS232
尺 寸：205×135×58mm
重 量：1.1 kg
R100探頭參數(shù):
特點：
— 能響好、量程寬、體積小、靈敏度高、不易損壞、使用壽命長、無需對溫度和壓力進行校正、無需 偏壓、散射線影響不小于1%、使用方便。
— 與不同的自動探頭識別器(ADI)一起使用，可將該探頭的功能擴展，以完成對 多種不同線質的劑量、劑量率測量。
— R100外接劑量儀后，與半價層支架和吸收片一起實現(xiàn)對半價層的自動測量。
·X光機劑量儀(配R100探頭)YK-S-300技術指標：
量程：
劑 量：10nGy-200Gy
1.15μR-23kR
劑量率：100nGy/s-300mGy/s
11.5μR/s-2070R/min
尺寸：20×45×7.4mm
重量：約85克
探頭面積：10×10mm
接頭：LEMO
校準：50-150kV，W / 3mm Al
