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XAU-4C(B)-國產(chǎn)膜厚儀 電鍍測厚儀
  • XAU-4C(B)-國產(chǎn)膜厚儀 電鍍測厚儀
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貨物所在地:廣東深圳市

地: 江蘇昆山

更新時間:2024-11-23 21:00:07

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國產(chǎn)膜厚儀 電鍍測厚儀 1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm²(加長測量時間可小至0.01mm²)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm3.EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精測量。 4.先進(jìn)的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。 5.高性能探測器

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國產(chǎn)膜厚儀 電鍍測厚儀 性能優(yōu)勢:

1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm²(加長測量時間可小至0.01mm²)

2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-30mm

3.先進(jìn)的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精測量。   

4.先進(jìn)的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。   

5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm²探測器。   

6.X射線裝置:微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置。 

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一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴(kuò)散度??;與EFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能,實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。

 

國產(chǎn)膜厚儀 電鍍測厚儀 先進(jìn)的EFP算法

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

RoHS檢測及標(biāo)定

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