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初級會(huì)員 | 第4年

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uBeam-Duma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀
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更新時(shí)間:2024-10-05 21:00:07

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Duma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀屬于CCD型光束分析儀,其CCD面積3.2x2.4mm,波長范圍350~1310nm,像素~4x4μm,配合10倍到100倍物鏡放大,實(shí)際像素可以變成0.4μm到0.04μm,可以測量小至0.5um的光束。

     激光聚焦光斑由于尺寸小,光斑能量非常集中,功率密度超高而不好測量。DUMA通過加配物鏡的方法把光斑放大10X~100X,一方面擴(kuò)大了光斑尺寸,另一方面減小了功率密度,從而使聚焦光斑的測試有了可能。


uBeam是微米級光斑測試儀,能夠測量連續(xù)激光或脈沖激光,實(shí)時(shí)顯示亞微米范圍內(nèi)的激光特性,例如激光聚焦光斑或整形后的平頂光斑。配合配SAM3-HP光束取樣器,μBeam甚至可以測量幾百瓦激光器的聚焦光斑。μBeam最小的有效像素為0.04μm,能夠測量的最小光斑大概在0.5μm。Duma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀


uBeam光斑分析儀規(guī)格參數(shù)

2.png

uBeam微米級光斑分析儀的主要特點(diǎn)和功能包括:

測量小于0.5µm光束(FWHM

高分辨率CCD80萬像素),CCD面積3.2x2.4mm,像素~4x4μm,波長范圍350~1310nm

µBeam-X-USB2.0   相機(jī),USB2.0接口,物鏡,軟件

µBeam-X-SA 相機(jī),顯示模塊,物鏡,軟件X

x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡,有效像素最小0.04x0.04um

長工作距離、光學(xué)變焦。




uBeam微米級光斑分析儀的訂貨型號

Model µBeam-X-USB 2.0: 完整的聚焦光斑系統(tǒng),x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡

Model µBeam-X-SA:

X (Objective magnification) : x10,x20,x50x100

Duma微米探測光束分析儀,聚焦光斑測試儀


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