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日本日置阻抗分析儀IM3570的特點(diǎn)
閱讀：1449 發(fā)布時(shí)間：2021-2-1
日本日置阻抗分析儀IM3570概述
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
阻抗分析儀IM3570測(cè)量方式：壓電元件的共振特性的測(cè)量
LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過(guò)掃頻測(cè)量和峰值比較器功能對(duì)共振狀態(tài)進(jìn)行合格判定，并在LCR模式想能通過(guò)1kHz或120Hz的LCR測(cè)量進(jìn)行檢查。掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量一臺(tái)儀器全部實(shí)現(xiàn)。
精度計(jì)算軟件
僅需輸入數(shù)值即可輕松計(jì)算精度。
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日本日置阻抗分析儀IM3570特點(diǎn)
★ 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
★ LCR模式下樶快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
★ 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
★ 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
★ 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
★ 可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400