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日本日置LCR測(cè)試儀 IM3523介紹
日本日置LCR測(cè)試儀 IM3523概述
應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇
LCR測(cè)試儀IM3523測(cè)量方法：連續(xù)測(cè)量不同條件
在電容的測(cè)量條件中希望以120Hz測(cè)量C-D。希望以100kHz測(cè)量ESR。這時(shí)，使用1臺(tái)告訴連續(xù)測(cè)量不同條件。
LCR測(cè)試儀IM3523測(cè)量方法：順暢的進(jìn)行生產(chǎn)線的設(shè)置更改的面板讀取功能
為了使用1臺(tái)LCR測(cè)試儀測(cè)量多種產(chǎn)品，要求高效率的更改設(shè)置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60組測(cè)量條件，還能保存128個(gè)開(kāi)路/短路補(bǔ)償和線長(zhǎng)補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測(cè)量條件。除了手動(dòng)讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號(hào)的讀取，因此能縮短構(gòu)筑自動(dòng)化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
可靠的產(chǎn)線檢查：接觸檢查功能
檢查4端子測(cè)量時(shí)樣品間的接觸不良。
測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設(shè)置的閾值以上時(shí)則顯示錯(cuò)誤。
精度計(jì)算軟件
僅需輸入數(shù)值即可輕松計(jì)算精度。
日本日置LCR測(cè)試儀 IM3523特點(diǎn)
★ 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
★ 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
★ 內(nèi)置比較器和BIN功能
★ 2ms的快速測(cè)試時(shí)間