儀器介紹 TEJDCS2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測試裝置能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 TEJDCS-2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是一種基于串聯(lián)諧振原理工作的50kHz～160MHz高頻阻抗測量儀器，對電感器，電容器，絕緣材料等進行高頻的有效電感，Q值，電容值和ε，tanδ及高頻電纜特性阻抗和衰減系數(shù)的測量 1 特點： ◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù)，使測Q精度和速度大大提高。 ◎ Q值四位有效顯示，0.1Q分辨率。 ◎ DPLL合成發(fā)生測試信號，數(shù)字設(shè)置和連續(xù)調(diào)節(jié)信號頻率。◎ 調(diào)諧回路殘余電感8nH，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。 ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。 ◎ Q值量程自動/手動量程控制。 ◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置，能提高批量測試的可靠性和速度。 ◎ 獨立50kHz～160MHz信號源輸出口，所以本機又是一臺160MHz的合成信號源，頻率準確度±50ppm，穩(wěn)定度±10ppm。 2 主要技術(shù)指標： 2.1 工作頻率范圍：
50kHz～160MHz，五位有效數(shù)顯。 2.2 Q值測量范圍：
1～1000；分1～30，10～100，30～300，100～1000 四檔。分辨率0.1Q. 2.3 Q值固有誤差：
±5%±3% 滿刻度值。 2.4 有效電感測量范圍：
0.02µH～200mH。 2.5 電感測量誤差：
≤3%±0.01µH 2.6 調(diào)諧電容特性： 2.6.1可調(diào)電容范圍：
13pF～220 pF。 2.6.2 精確度：
±1% 或0.5pF。 2.6.3 電容量測量范圍：
1pF～200pF。 2.6.4 電容測量誤差：
±1%±0.5pF。 2.6.5 殘余電感值：
約8nH。 2.7 Q預(yù)置功能：
2.7.1Q預(yù)置范圍：
5～999均可。被測件達到預(yù)置值后有“GO"顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO"。 2.8 外形尺寸及重量：
415×180×170（mm）,7kg。 | 
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