Bruker三維光學(xué)表面輪廓儀-ContourGT-K0 返回列表頁

Bruker三維光學(xué)表面輪廓儀-ContourGT-K1

布魯克 (Bruker) 是表面測(cè)量和檢測(cè)技術(shù)的領(lǐng)dao者，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結(jié)合了良好的64位多核操作和分析處理軟件，專li技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和*的操作簡(jiǎn)易性，是歷年來來的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有超大視野內(nèi)亞埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界zui高的測(cè)量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，zui廣泛使用和zui直觀的3D表面計(jì)量平臺(tái)。

應(yīng)用：

    對(duì)LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)等，提供*非接觸式測(cè)量方案，樣品從小至微米級(jí)別的微機(jī)電器件（MEMS），大到整個(gè)引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準(zhǔn)數(shù)據(jù)

原理：

利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量，從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度，干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長(zhǎng)(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長(zhǎng)為單位測(cè)量光程差的，其測(cè)量精度之高是任何其他測(cè)量方法所*的。

特征：

• 業(yè)界zui高的垂直分辨率，zui強(qiáng)大的測(cè)量性能；

• 0.5~200倍的放大倍率；
• 任何倍率下亞埃級(jí)至毫米級(jí)垂直測(cè)量量程；
• 高分辨率攝像頭；