自動(dòng)光學(xué)檢測AOI CMOS傳感器檢查 返回列表頁

CAMTEK  自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)AOI設(shè)備 CMOS圖像傳感器檢查

Camtek CMOS圖像傳感器制造商提供了大量環(huán)境系統(tǒng)與不妥協(xié)的檢測能力。

我們的先進(jìn)解決方案強(qiáng)加的*挑戰(zhàn)CIS應(yīng)用程序,如像素尺寸小型化和復(fù)雜的生產(chǎn)過程,是基于我們長期積累的經(jīng)驗(yàn)在這個(gè)市場。

功能

•Sub-resolution檢測™
•動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)展器和雙照明
•黑場和明亮的場
•先進(jìn)的低對比度缺陷算法
•細(xì)晶片和改造晶片處理
•驗(yàn)證:在線和離線

技術(shù)

•先進(jìn)的缺陷檢測和計(jì)量處理引擎
•高分辨率三維共焦傳感器

產(chǎn)品

頭鷹

頭鷹年代的2 d表面缺陷檢驗(yàn)和計(jì)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)高容量生產(chǎn)前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標(biāo)記檢查,OQc等等。

EagleT-i

設(shè)計(jì)的速度和準(zhǔn)確性,Camtek EagleT-i是一個(gè)最快的和的2 d檢查工具在市場上。