KLA探針式臺階儀基于"探針接觸掃描+傳感器反饋"技術，通過探針與樣品表面接觸并掃描，結合高精度傳感器實時反饋位移變化，實現(xiàn)納米級至微米級臺階高度、表面形貌及應力的二維/三維測量。以下是其工作原理的詳

四探針電阻率測量儀是一種用于測量材料表面電阻的儀器，在電子制造行業(yè)，特別是在PCB板、纖維布、皮革、塑料等材料的表面電阻測試中，它被廣泛使用。下面我們來了解一下四探針電阻率測量儀的使用方法。首先，我們

實驗室的工作追求的是性，可是環(huán)境振動源的影響很容易成為一個問題，一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法獲得的實驗數(shù)據。主動式減震系統(tǒng)就是為了解決這一問題產生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水

KLA光學輪廓儀在鈣鈦礦電池到半導體制造的超薄膜厚度測量中，憑借其高精度、非接觸式測量和多功能性，成為關鍵工具，具體應用如下：一、鈣鈦礦太陽能電池中的超薄膜厚度測量TCO層測量：重要性：TCO層是鈣鈦

XRF鍍層測厚儀是高精度分析設備，長期使用可能因環(huán)境、操作或部件老化出現(xiàn)故障。及時排查隱患可保障測量穩(wěn)定性，本文總結常見故障場景及應對方案。??一、測量數(shù)據偏差異常????1.基材污染??若數(shù)據持續(xù)偏

光學膜厚測量儀是一種用于測量材料表面涂層厚度的精密儀器，廣泛應用于金屬、塑料、陶瓷等材料的涂層厚度檢測。在日常使用過程中，膜厚儀可能會出現(xiàn)一些故障，需要進行維修。光學膜厚測量儀常見故障的維修解決方法：

探針式表面輪廓儀廣泛應用于表面形貌的測量與分析，其主要通過接觸式探針掃描被測表面，獲得其三維輪廓數(shù)據。然而，在長期使用過程中，設備可能會遇到各種問題和故障。了解常見故障的原因，并掌握相應的處理方法，對

一、白光干涉輪廓儀簡介白光干涉輪廓儀是一種高精度的測量設備，廣泛應用于表面輪廓的三維測量。其工作原理基于干涉效應，通過白光（即包含多種波長的光源）照射到待測表面，利用干涉條紋的變化來分析表面的形貌。與