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日立EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀能快速掃描
閱讀：739 發(fā)布時(shí)間：2019-3-6
能量色散型X射線熒光分析儀通過位置精度較高的自動(dòng)樣品臺(tái)和高靈敏度性能，X射線熒光分析儀可以對(duì)微小異物進(jìn)行快速掃描和檢查，也可對(duì)電子基板等復(fù)合材料制品的微小特定部位實(shí)施定點(diǎn)測(cè)量。
日立EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀能快速掃描
憑借zui大150萬CPS的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器完成高靈敏度的測(cè)量，以及借助zui大250mm×200mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速掃描測(cè)量。對(duì)于范圍為100mm×100mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測(cè)出端子部分的鉛并確定其位置。
在測(cè)定微量成分時(shí)，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測(cè)比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對(duì)高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
為了隨時(shí)得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果裝置需要進(jìn)行校正，而用戶們希望盡可能在短時(shí)間內(nèi)完成校正時(shí)的操作和判定。EDX-LE在開啟儀器后會(huì)對(duì)能量校正和定量值校正的操作進(jìn)行幫助，當(dāng)需要進(jìn)行校正時(shí)會(huì)自動(dòng)進(jìn)行校正。在日常操作中根據(jù)產(chǎn)品的不同會(huì)經(jīng)常變更管理值，而該產(chǎn)品可以根據(jù)管理方法對(duì)篩選分析條件輕松自定義。從開始分析到制成分析報(bào)告所有操作都可以更有效的進(jìn)行。另一方面，該裝置在軟件操作上配備了權(quán)限限制設(shè)定，從而避免了沒有變更篩選分析條件權(quán)限的人員由于誤操作而改變條件的現(xiàn)象。