篤摯儀器(上海)有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國(guó)馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國(guó)馬爾 Mahr

德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國(guó)菲希爾Fischer測(cè)厚儀

德國(guó)Elektrophysik(EPK)

德國(guó)尼克斯QNix測(cè)厚儀

德國(guó)BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國(guó)狄夫斯高Defelsko

美國(guó)GE通用電氣

美國(guó)zygo干涉儀

美國(guó)API激光干涉儀

美國(guó)OGP影像測(cè)量?jī)x

美國(guó)康寧CORNING TROPEL

美國(guó)環(huán)球Universal

美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢(shì)Proceq硬度計(jì)

奧地利EMCOTEST硬度計(jì)

表面處理層無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)

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[供應(yīng)]英國(guó)牛津Oxford CMI760測(cè)厚儀
英國(guó)牛津Oxford CMI760測(cè)厚儀
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
英國(guó)
更新時(shí)間:
2025-06-30 09:14:34
有效期:
2025年6月30日--2025年12月29日
已獲點(diǎn)擊:
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【簡(jiǎn)單介紹】英國(guó)牛津Oxford CMI760測(cè)厚儀
牛津儀器CMI760旨在滿足印刷電路板行業(yè)的銅測(cè)量和質(zhì)量控制需求。 CMI760測(cè)量各種表面銅應(yīng)用,并配有SRP-4用戶可替代的提示。 還可添加可選附件,測(cè)量電鍍通孔銅。 這種高度可擴(kuò)展的臺(tái)式系統(tǒng)能夠進(jìn)行微電阻和渦流測(cè)試,從而和地測(cè)量銅。
【詳細(xì)說(shuō)明】

英國(guó)牛津Oxford CMI760測(cè)厚儀

牛津儀器CMI760旨在滿足印刷電路板行業(yè)的銅測(cè)量和質(zhì)量控制需求。 CMI760測(cè)量各種表面銅應(yīng)用,并配有SRP-4用戶可替代的提示。 還可添加可選附件,測(cè)量電鍍通孔銅。 這種高度可擴(kuò)展的臺(tái)式系統(tǒng)能夠進(jìn)行微電阻和渦流測(cè)試,從而和地測(cè)量銅。

PCB Through-Hole & Copper Surface Measurement Gauge - CMI 760

Oxford CMI760測(cè)厚儀

Oxford CMI760測(cè)厚儀描述:
來(lái)自牛津儀器公司的CMI 760 PCB通孔和銅表面管理儀表是用于為PCB供應(yīng)商提供優(yōu)化涂層厚度的臺(tái)式儀表。 它們適用于通用,單面和雙面或多層PCB板上快速,簡(jiǎn)單,準(zhǔn)確的通孔測(cè)量,需要PCB板程序和鍍銅測(cè)量。

Oxford CMI760測(cè)厚儀主要特征:

  • CMI760和CMI760N封裝測(cè)量表面銅厚度應(yīng)用,以滿足印刷電路板行業(yè)的質(zhì)量控制需求。該探頭采用了牛津儀器專有的SRP-4微電阻技術(shù),其特征在于用于標(biāo)準(zhǔn)(CMI760,SRP-4)或窄(CMI760N,SRP-4N)品種的用戶可替換測(cè)量提示。
  • 測(cè)量PCB上的銅厚度。
  • 測(cè)量箔或?qū)訅恒~厚度,密耳,μm或銅重量(盎司)。
  • 確定PCB上的無(wú)電鍍或電鍍銅厚度。
  • 蝕刻或平坦化后,量化銅的厚度。
  • 驗(yàn)證PCB表面的鍍銅厚度。
  • CPU單元具有高對(duì)比度彩色液晶顯示屏。
  • 內(nèi)存可存儲(chǔ)多達(dá)5000個(gè)測(cè)量,參數(shù)和校準(zhǔn)。
  • R232 PC連接。
  • Parrelel打印機(jī)端口。
  • 多級(jí)用戶密碼安全系統(tǒng)。
  • 使用直方圖,X-bar,R圖和趨勢(shì)圖進(jìn)行統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析,可以在顯示屏上查看或直接從儀器打印。


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