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菲希爾、XDL230 鍍金層測(cè)厚儀信息

2025-5-31  閱讀(151)

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X射線鍍層測(cè)厚儀簡介:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。菲希爾XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

由于采用了FISCHER基本參數(shù)法,因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

鍍金層測(cè)厚儀菲希爾代理典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

• 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測(cè)量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

• 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測(cè)量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>


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