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泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116產(chǎn)品消息
一、泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICS116接口類型SurtronicS116表面粗糙度測(cè)量儀配備雙USB接口，通過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)A類型USB接口和迷你USB接口，為S-100系列測(cè)量儀提供多種連接選擇：A類型USB接口：可連接便攜式打印機(jī)（ESC/POS兼容），具體配件信息詳見“配件"頁；也可連接標(biāo)準(zhǔn)USB儲(chǔ)存裝置，用于儲(chǔ)存測(cè)量結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或屏幕圖像。迷你USB接口：支持充電功能，適配任何標(biāo)準(zhǔn)USB充電器；同時(shí)可連接電腦，便于進(jìn)一步開展數(shù)據(jù)分析與報(bào)告生成工作。二、泰勒霍普森粗糙度儀SURTRO -
FISCHERSCOPE X-RAY XAN215 X射線測(cè)厚儀信息
FISCHERSCOPEX-RAYXAN215是一款高性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，專為無損分析場(chǎng)景設(shè)計(jì)，尤其適用于珠寶、錢幣、貴金屬等領(lǐng)域的檢測(cè)需求。核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)多元素精準(zhǔn)分析：可覆蓋從氯（17號(hào)元素）到鈾（92號(hào)元素）的廣泛元素范圍，最多可同時(shí)測(cè)定24種元素，精準(zhǔn)解析貴金屬及其合金的成分構(gòu)成。高效穩(wěn)定性能：延續(xù)FISCHERSCOPEX-RAY系列的品質(zhì)，具備初始高準(zhǔn)確性與長期穩(wěn)定性，大幅降低儀器校準(zhǔn)所需的時(shí)間與人力成本。創(chuàng)新分析方法：采用先進(jìn)的Si-PIN基本參數(shù) -
菲希爾測(cè)厚儀X射線XDL210產(chǎn)品信息FISCHERSCOPEX-RAYXDL210是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，一起還能檢測(cè)大規(guī)模出產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL210特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料查驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：?丈量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件?丈量超薄鍍層，例如：裝飾鉻?丈量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層?丈量印刷線路板?分析電鍍?nèi)芤篨DL210有著杰出的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常
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泰勒Form Talysurf i系列表面粗糙度、輪廓和3D(三維)測(cè)量原理
FormTalysurfi系列適用于測(cè)量表面粗糙度和輪廓測(cè)量的高分辨率測(cè)量系統(tǒng)電感式粗糙度輪廓儀：提供高分辨率的自動(dòng)化粗糙度與輪廓檢測(cè)系統(tǒng)。測(cè)量能力是非常強(qiáng)的。1，表面粗糙度細(xì)節(jié)，低噪音的高分辨率傳感器保證了一次測(cè)量便可得到粗糙度、波紋和粗糙度的測(cè)量結(jié)果。2，輪廓，校準(zhǔn)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)半徑，角度，高度，長度，距離，等精確測(cè)量。3，3D，使用可選的自動(dòng)Y移動(dòng)臺(tái)和Talymap軟件，能夠輕松的將傳統(tǒng)的2D測(cè)量轉(zhuǎn)換為3D測(cè)量工具。應(yīng)用：氣缸蓋閥門表面粗糙度，閥門角度；滾柱軸承表面粗糙度，形狀誤差和DXF對(duì) -
i-系列電感式粗糙度輪廓儀提供高分辨率的自動(dòng)化粗糙度與輪廓檢測(cè)系統(tǒng)FormTalysurfi系列用于表面粗糙度和輪廓測(cè)量的高分辨率測(cè)量系統(tǒng)是眾多汽車、軸承、齒輪等行業(yè)應(yīng)用的理想選擇。表面粗糙度和輪廓測(cè)量合二為一FormTalysurfi系列是一臺(tái)能夠同時(shí)測(cè)量表面粗糙度和輪廓的高精度儀器。該系統(tǒng)的低噪音和高分辨率傳感器能夠確保測(cè)量的完整性，通過選擇不同類型的傳感器，能夠?yàn)楦鞣N應(yīng)用提供多樣化的方案。可重復(fù)測(cè)量的結(jié)果擁有多年行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，超精密加工的專業(yè)知識(shí)以及FEA優(yōu)化設(shè)計(jì)的結(jié)合，能夠提供低噪音，且近乎
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FISCHERSCOPEHM2000菲希爾納米壓痕儀是一款專業(yè)的納米壓痕測(cè)量儀器，適用于通過納米壓痕法分析材料的機(jī)械與彈性特性。其非常堅(jiān)固且尺寸穩(wěn)定的構(gòu)造可減少振動(dòng)與溫度波動(dòng)的影響。穩(wěn)定的測(cè)量條件使其非常適用于要求嚴(yán)苛的研發(fā)與工業(yè)應(yīng)用中的測(cè)量任務(wù)。此外，它的全自動(dòng)測(cè)量程序使其成為連續(xù)測(cè)試的理想之選。菲希爾代理，自動(dòng)款納米壓痕儀，測(cè)量使用方便，測(cè)試效率高。菲希爾自動(dòng)款納米壓痕儀FISCHERSCOPEHM2000特性：眾多塑性與彈性特性的測(cè)定，例如馬氏硬度、壓痕硬度（或維氏硬度）、壓痕模量以及蠕變
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FISCHER納米壓痕儀菲希爾FISCHERSCOPE HM2000S信息
德國菲希爾FischerscoperHM2000S是一款性價(jià)比較高入門級(jí)納米壓痕儀，適合在微納米級(jí)測(cè)量覆蓋層的硬度，如覆蓋層厚度超過1–2μm。將具備簡單形狀的試樣放在測(cè)量臺(tái)上進(jìn)行人工定位。平臺(tái)上的防彎曲機(jī)制設(shè)計(jì)確保了樣品的準(zhǔn)確固定和定位，大理石底座使得整體結(jié)構(gòu)更穩(wěn)固，避免了測(cè)量誤差和環(huán)境震動(dòng)等因素的影響。該型號(hào)儀器還可以配備一個(gè)專用的定位夾具，以便對(duì)特殊樣品如圓柱型樣品進(jìn)行定位和測(cè)量。除了可測(cè)量馬氏硬度以外，還可以測(cè)量其它彈/塑性特征參量如壓入硬度，壓入模量和蠕變。菲希爾納米壓痕儀手動(dòng)調(diào)整測(cè)試 -
菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XAN500信息
FischerscopeX-RAYXAN500菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損測(cè)量及材料分析。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。菲希爾X射線測(cè)厚儀，手持式X射線，使用比較簡單方便，適合現(xiàn)場(chǎng)做大工件的無損檢測(cè)，測(cè)試精度比較高，測(cè)試效率快，不在需要準(zhǔn)備隨爐試樣。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：測(cè)量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測(cè)量對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)FISCHERSCOPEX-RAY
