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絕緣電阻測(cè)試儀使用方法

2016-9-28 閱讀(2069)

測(cè)試程序

首先確保該設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,并在工作區(qū)域是安全的,如設(shè)備DE-通電和斷開,所有相關(guān)的工作許可已經(jīng)批準(zhǔn)和所有的鎖/標(biāo)簽。

接下來,放電電容靜電放電棒或紅外測(cè)試儀,具有自動(dòng)放電功能的設(shè)備(特別是高壓設(shè)備)。

紅外測(cè)試儀上的導(dǎo)線,然后可以連接的設(shè)備的導(dǎo)電部分。例如,對(duì)于三芯和接地電纜,紅外測(cè)試之間施加核心(核心1的Core 2,核心1至3和核心的Core 2核心3),每個(gè)核心和大地之間。同樣,對(duì)于三相電機(jī),的電路breakrs,隔離開關(guān)等的IR測(cè)試已經(jīng)可以應(yīng)用上面的設(shè)備終端(與大地連接)。

請(qǐng)注意,施加紅外測(cè)試接地時(shí),它是很好的做法,紅外測(cè)試儀的正極連接到大地,以避免在地球上的任何極化效應(yīng)。

一旦連接上,紅外測(cè)試儀是一個(gè)典型的測(cè)試持續(xù)時(shí)間為1分鐘通電。1分鐘后的紅外測(cè)試測(cè)量記錄。

當(dāng)IR測(cè)試完成后,再次放電電容一段時(shí)間的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的4-5倍。


 

測(cè)試結(jié)果的解釋

紅外測(cè)試的zui低值取決于設(shè)備的類型和額定電壓的。他們還按照標(biāo)準(zhǔn)而有所不同。有些標(biāo)準(zhǔn)將定義zui小的紅外測(cè)試值,對(duì)于一般的電氣裝置。

例如,對(duì)于低電壓裝置在IEC的世界,IEC 60364-6 [1]表6A給出了zui小的IR值和還表明試驗(yàn)電壓,即

標(biāo)稱電路電壓(VAC)測(cè)試電壓(Vdc)絕緣電阻(MΩ
特低電壓250\ GEQ0.5
高達(dá)500V500\ GEQ1.0
500V以上1,000\ GEQ1.0

在ANSI / NEC世界,標(biāo)準(zhǔn)ANSI / NETA ATS-2009 [2]提供了大多數(shù)類型的電氣設(shè)備的試驗(yàn)規(guī)程和驗(yàn)收水平。表100.1提供代表接受紅外測(cè)試測(cè)量,這應(yīng)該用在任何其他的指導(dǎo)的情況下(從制造商或其他準(zhǔn)則)的值:

設(shè)備額定電壓(VAC)zui小測(cè)試電壓(Vdc)zui小絕緣電阻(M Ω
25050025
6001,000100
1,0001,000100
2,5001,000500
50002,5001,000
80002,5002000
15,0002,5005000
25,000500020,000
34,500及以上15,000100,000

NFPA 70B [3]也提供了一些指導(dǎo),為不同類型的設(shè)備絕緣電阻測(cè)試。


 

影響測(cè)試結(jié)果的因素

主要有兩個(gè)因素會(huì)影響紅外測(cè)試結(jié)果:


 

溫度

   電阻具有逆指數(shù)關(guān)系隨溫度變化,即隨著溫度的升高,阻力將減少,反之亦然。由于zui小可接受的紅外測(cè)試值是基于一個(gè)固定的參考溫度(攝氏20 ),所測(cè)得的紅外(IR)測(cè)試值必須被校正到參考溫度,以使感。

  作為一個(gè)經(jīng)驗(yàn)法則,每10 ? C增加溫度(反之亦然)的電阻減半。因此,如果測(cè)得的紅外測(cè)試值是2M Ω在攝氏20 ,那么它會(huì)在30 ? C或4M Ω 1M Ω在10 ℃。

   ANSI / NETA ATS-2009表100.14提供的修正系數(shù),紅外測(cè)試測(cè)量溫度以外的20 ? C或攝氏40 ,這是兆歐表自由書“小洞不補(bǔ),校正因子的基礎(chǔ)上反過來.. “。[4]。


 

濕度

水分的存在(或缺乏)的水分,也可以影響到紅外測(cè)試測(cè)量,水分含量越高,在空氣中,較低的紅外測(cè)試讀數(shù)。如果可能的話,不應(yīng)該進(jìn)行IR測(cè)試在很潮濕的環(huán)境中的露點(diǎn)以下。盡管目前還沒有標(biāo)準(zhǔn)的校正因子或指導(dǎo)潮濕的條件下,這是很好的做法,使他們能夠在未來的測(cè)試中用于基線比較,記錄每個(gè)IR測(cè)試的相對(duì)濕度。例如,過去的數(shù)據(jù)上的紅外干燥和潮濕天的測(cè)試值,會(huì)給你的基礎(chǔ),評(píng)估未來的測(cè)試值。



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