北京愛歐德儀器設(shè)備有限公司

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AODJ-EDX600X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀 貴金屬檢測儀 鍍層厚度檢測測量儀
X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀  貴金屬檢測儀  鍍層厚度檢測測量儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 AODJ-EDX600
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市

更新時(shí)間:2016-09-11 18:09:40瀏覽次數(shù):379

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【簡單介紹】
X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀 貴金屬檢測儀 鍍層厚度檢測測量儀
EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。
【詳細(xì)說明】

X熒光光譜儀 X光管光譜檢測儀  貴金屬檢測儀  鍍層厚度檢測測量儀

型號:AODJ-EDX600

儀器介紹

           EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。

性能特點(diǎn)

貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。

智能貴金屬檢測軟件,與儀器硬件相得益彰。

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序。

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。

測量對象:固體、液體、粉末

分析檢出限可達(dá):1ppm。

分析含量一般為:1ppm到99.9%。

多次測量重復(fù)性可達(dá):0.1%。

工作穩(wěn)定性為:0.1%。

標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔。

正比計(jì)數(shù)盒探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

應(yīng)用領(lǐng)域

、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。



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