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泰勒粗糙度儀DUO信息

時間:2025/5/26閱讀:107
在測量效率與精準(zhǔn)度方面,英國泰勒霍普森粗糙度儀 DUO 表現(xiàn)很好。其多參數(shù)測量功能堪稱規(guī)范,用戶僅需一鍵操作,便能同步獲取 Ra(輪廓算術(shù)平均偏差)、Rz(輪廓最大高度)、Rp(輪廓最大峰高)、Rv(輪廓最大谷深)和 Rt(輪廓總高度)等核心參數(shù),能剖析被測表面的粗糙度特征,為質(zhì)量把控提供詳實數(shù)據(jù)支撐。
測量范圍上,DUO 展現(xiàn)出強大的兼容性與適應(yīng)性。Ra 量程覆蓋 0.01μm-40μm,Rz、Rp、Rv、Rt 可達 0.1μm-199μm,搭配 200μm 的傳感器范圍與 5mm 行程,無論是精密零件的微觀表面檢測,還是大型工件的宏觀輪廓評估,都能輕松勝任,滿足多樣化的高精度測量需求。
談及測量精度,DUO 憑借 0.01μm 的超高分辨率,將 Ra 精度控制在 0.01μm、Rz 精度達 0.1μm,測量誤差僅為讀數(shù)的 5%+0.1μm,重復(fù)性誤差保持在值的 2%+ 噪聲水平。這般嚴(yán)苛的精度標(biāo)準(zhǔn),確保每一次測量數(shù)據(jù)都真實可靠,為生產(chǎn)制造與質(zhì)量檢測筑牢精確根基。


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