Elcometer 456 涂層測(cè)厚儀掃描探頭
新的 Elcometer 456 涂層測(cè)厚儀掃描探頭 , 不僅允許檢查員在 不損壞探頭或涂層的情況下 , 將探頭在整個(gè)表面拖動(dòng)，但同時(shí)也增加了 Elcometer 456 涂層測(cè)厚儀閱讀率到達(dá)每分鐘 140 個(gè)讀數(shù)

 Elcometer 456 涂層測(cè)厚儀掃描探頭

 

新的 Elcometer 456 涂層測(cè)厚儀掃描探頭 , 不僅允許檢查員在 不損壞探頭或涂層的情況下 , 將探頭在整個(gè)表面拖動(dòng)，但同時(shí)也增加了 Elcometer 456 涂層測(cè)厚儀閱讀率到達(dá)每分鐘 140 個(gè)讀數(shù) - 顯著加快測(cè)量有涂層的鐵基板（F）或非鐵基板（NF）。Elcometer 456 掃描探頭具有經(jīng)久耐用的 “卡入式” 可換探頭蓋， 以便在掃描表面涂層的滑動(dòng)操作下 , 不會(huì)磨損任何探頭端部，保持探 頭的準(zhǔn)確性至關(guān)重要 。使用掃描探頭補(bǔ)償功能（Elcometer 456 ）時(shí) , 探頭蓋的厚度被排除在任何涂層厚度測(cè)量 , 并因?yàn)樘筋^蓋在使用過(guò)程中磨損 , 這種磨損的效果也計(jì)算在里面 . 該儀器甚至可顯示一條警告消息通 知用戶何時(shí)更換探頭蓋 。

 

篤摯儀器提供的產(chǎn)品有：圓度儀，圓柱度儀，輪廓測(cè)量?jī)x，表面粗糙度儀，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，便攜式三坐標(biāo)測(cè)量臂，測(cè)高儀，高度儀、影像測(cè)量?jī)x，*測(cè)長(zhǎng)儀，測(cè)量投影儀，日本三豐量具，瑞士TESA量具，德國(guó)馬爾量具，金相顯微鏡，*工具顯微鏡，掃描電子顯微鏡，涂鍍層測(cè)厚儀，超聲波測(cè)厚儀，凸輪軸綜合測(cè)量機(jī)，曲軸綜合測(cè)量機(jī)，齒輪測(cè)量中心，直讀光譜儀，便攜式光譜儀，合金元素分析儀，重金屬元素分析儀，貴金屬元素檢測(cè)儀，液相色譜儀，殘余應(yīng)力分析儀，精密計(jì)量檢測(cè)儀器；產(chǎn)品涵蓋長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器、試驗(yàn)儀器、測(cè)繪儀器、分析儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、建筑儀器、光學(xué)儀器、無(wú)損檢測(cè)等。

掃描模式

※選擇掃描模式*后，用戶可在整個(gè)表面區(qū)域內(nèi)滑動(dòng)掃描探頭。  

※探頭離開(kāi)表面時(shí)，該測(cè)厚儀顯示平均涂層厚度值、高厚度以及低厚度值。 

※每組三個(gè)讀數(shù)（平均值、高、低值）可顯示在趨勢(shì)圖上并存儲(chǔ)于內(nèi)存中。

※掃描期間，Elcometer 456顯示實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)以及模擬柱狀圖。

※該圖展示與名義厚度以及任何用戶定義限值相關(guān)的厚度。

 

自動(dòng)重復(fù)模式：當(dāng)掃描探頭在自動(dòng)重復(fù)模式*下滑過(guò)涂層表面時(shí)，每半秒即可產(chǎn)生一個(gè)讀數(shù)。 單個(gè)讀數(shù)存儲(chǔ)在內(nèi)存中。以每分鐘超過(guò)140條讀數(shù)的讀取率，自動(dòng)重復(fù)模式可加快檢驗(yàn)大片涂層區(qū)域。

固定數(shù)組大小：Elcometer 456高級(jí)型具有的固定數(shù)組大小功能可使用戶定義各數(shù)組中的大讀數(shù)量。  一旦達(dá)到大讀數(shù)量，儀器將自動(dòng)開(kāi)啟與之前數(shù)組相關(guān)的新數(shù)組（名稱—1、名稱—2等）。 

掃描探頭：

※Elcometer 456掃描探頭具有經(jīng)久耐用的“卡入式”可換探頭蓋，

※這一革命性的設(shè)計(jì)使用戶可獲取單一讀數(shù)或快速掃描大塊表面區(qū)域，而不會(huì)損壞探頭或涂層。

※在掃描或自動(dòng)重復(fù)模式*下，掃描探頭可使用戶在確保準(zhǔn)確度的條件下，大大減少檢測(cè)時(shí)間。

※使用補(bǔ)償功能+時(shí)，可確保使用過(guò)程中任何探頭蓋的磨損均納入校準(zhǔn)過(guò)程中。  

※該儀器甚至可通知用戶何時(shí)更換探頭蓋。

                       

符合標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法

※標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試方法通常描述儀器一次點(diǎn)測(cè)過(guò)程中獲取的單一讀數(shù)量和/或已確定表面區(qū)域內(nèi)所需的點(diǎn)測(cè)量。 

※SSPC PA2要求每次儀器點(diǎn)測(cè)至少三個(gè)讀數(shù)，在10m2（~100ft2）范圍內(nèi)執(zhí)行五次點(diǎn)測(cè)。

※Elcometer 456 S型或T型可設(shè)置三個(gè)計(jì)數(shù)平均值及五個(gè)固定數(shù)組大小，以滿足此類要求。  

※各數(shù)組對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)量區(qū)域。

※連接掃描探頭到已選自動(dòng)重復(fù)模式的 T型后，SSPC PA2（或類似測(cè)試方法）的完成速度可提高40%。