數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀

數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀使用方法

先檢查JZF－10校正脈沖發(fā)生器的電池電壓，如面板上電壓表指示，在8V以上方能正常工作。

數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀將輸出的紅、黑兩個(gè)端子上接上導(dǎo)線，紅端子上的導(dǎo)線盡量短，且靠近試品的高壓端，黑線導(dǎo)線接試品的低壓端，將校正電量開(kāi)關(guān)置于5、10、50、100、500中任何合適一檔即可校正。頻率可在1.2KHｚ附近調(diào)節(jié)。

校正電量發(fā)生器使用后及時(shí)將調(diào)節(jié)電荷量的波段開(kāi)關(guān)旋在關(guān)位置。如校正電量發(fā)生器工作時(shí)表頭指示在8V以下，則需充電，充電要適時(shí)，且時(shí)間要連續(xù)達(dá)到5小時(shí)。如校準(zhǔn)電量發(fā)生器常期未用，則每月補(bǔ)充一次電。

起因：閃光燈，熱繼電器，接觸器和各種火花試驗(yàn)器或有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)造成。

（6）可控硅元件

干擾訊號(hào)波形見(jiàn)圖6，特點(diǎn)：干擾訊號(hào)在時(shí)基橢圓上之位置固定，每一元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立的高頻脈沖訊號(hào)。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí)，訊號(hào)幅值增加，也可能發(fā)生波形展寬、相移，從而在時(shí)基上占位增加。

起因：供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運(yùn)行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。

（7）異步電機(jī)

干擾波形見(jiàn)圖7。特點(diǎn)：在時(shí)基橢圓上正負(fù)半周波形出現(xiàn)對(duì)稱(chēng)的二組訊號(hào)，且沿掃描時(shí)基逆時(shí)針?lè)较蛞苿?dòng)。

起因：異步電機(jī)運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的干擾訊號(hào)耦合到檢測(cè)回路中來(lái)。

（8）螢光燈

干擾波形見(jiàn)圖8。特點(diǎn)：在橢圓時(shí)基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖，并伴有正負(fù)半波時(shí)對(duì)稱(chēng)出現(xiàn)的二簇脈沖組。

（9）電動(dòng)機(jī)

干擾波形見(jiàn)圖9。特點(diǎn)：沿橢圓時(shí)基均布，等幅值每一個(gè)單個(gè)訊號(hào)或“山”字形。

起因：帶換向器的電動(dòng)機(jī)如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)所發(fā)出的干擾訊號(hào)。