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用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)控的原位納米粒度測(cè)量技術(shù)
閱讀：1597發(fā)布時(shí)間：2020-03-30
| 提 供 商： | 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 | 資料大小： | 1.4MB |
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詳細(xì)介紹
本文介紹了用于原位納米粒度分析的遠(yuǎn)程光纖探頭技術(shù)VASCO KinTM。由法國(guó)技術(shù)公司（CORDOUAN Technologies）開(kāi)發(fā)的VASCO KinTM是一款功能的納米粒度分析儀，它利用的單模光纖技術(shù)將DLS測(cè)量導(dǎo)入到你的過(guò)程監(jiān)控。創(chuàng)新的光纖遠(yuǎn)程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡(jiǎn)單地結(jié)合到你現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)裝置上(如合成反應(yīng)器或小角X光散射SAXS系統(tǒng))，給用戶提供了大的測(cè)量靈活性，以監(jiān)測(cè)和改進(jìn)其工藝過(guò)程的顆粒粒度隨時(shí)間或反應(yīng)條件的變化。
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