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詳細(xì)摘要：顆粒球形度分析儀是一臺(tái)的簡(jiǎn)便的粉體和顆粒表征的自動(dòng)粒徑粒形分析儀, 可以分析范圍在0.2m-3000m之間的粉體顆粒粒徑；也可以分析范圍在0.8 - 300m的懸浮液和乳濁液；還可以利用背光表面分析技
發(fā)布時(shí)間：2024/12/13所在地：北京北京市
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詳細(xì)摘要：碳黑粒子表面特征分析儀是一款評(píng)價(jià)粒子界面的裝置，是一款設(shè)計(jì)的新產(chǎn)品，可以對(duì)懸浮液狀，乳液中小至納米尺寸的顆粒的分散性的測(cè)試及對(duì)顆粒在濕式狀態(tài)的比表面積測(cè)量。
發(fā)布時(shí)間：2024/12/13所在地：北京北京市
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詳細(xì)摘要：高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測(cè)試和遠(yuǎn)程原位測(cè)試。
發(fā)布時(shí)間：2024/12/13所在地：北京北京市
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詳細(xì)摘要：自動(dòng)電位滴定儀，英文名：Automatic potential titrator，基于電聲法的測(cè)試原理，主要應(yīng)用漿料分散體系中Zeta電位，等電點(diǎn)，雙電層厚度，測(cè)定，包括CMP漿料，納米分散體系、陶瓷
發(fā)布時(shí)間：2024/12/1所在地：北京北京市
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詳細(xì)摘要：Occhio Zephyr系列 粒度粒形分析儀度粒形分析儀將圖像這一直觀的觀察測(cè)量方法與統(tǒng)計(jì)學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個(gè)別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計(jì)信息，從而
發(fā)布時(shí)間：2024/11/4所在地：北京北京市
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詳細(xì)摘要：歐奇奧 Zephyr 圖像法粒度分析儀粒度粒形分析儀將圖像這一直觀的觀察測(cè)量方法與統(tǒng)計(jì)學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個(gè)別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計(jì)信息，從而幫助使
發(fā)布時(shí)間：2024/11/4所在地：北京北京市
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儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司主營產(chǎn)品：潤(rùn)濕比表面分析儀-動(dòng)態(tài)圖像法粒度分析儀-粒子分散穩(wěn)定性分析儀
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