Mikro Test G6涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)試結(jié)果受哪些因素影響

德國EPK Mikro Test G涂鍍層測(cè)厚儀是一款機(jī)械式涂鍍層測(cè)厚儀，指針刻度盤，量程0-100um，精度±1um或5%讀值，自動(dòng)操作，自上市七十多年以來，由于工藝技術(shù)及精度等方面，具有磁性覆層測(cè)厚儀的，使得G6非常。不過大部分使用者對(duì)MikroTest G6在操作過程中如何規(guī)范使用儀器，并不是很清楚。本文將詳細(xì)介紹：

 

1.保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離磁鐵或電磁鐵，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)；

2.測(cè)厚儀節(jié)勿猛烈碰撞；

3.測(cè)厚儀用完后將指輪逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，停在滿刻度附近后再放入手提箱；

4.盡管 Mikrotest 測(cè)厚儀非常結(jié)實(shí)，也要象使用其它精密儀器一樣，小心加以愛護(hù)

 

德國EPK Mikro Test G6涂鍍層測(cè)厚儀，又稱為G6涂層測(cè)厚儀，EPK MiKro test G6膜厚儀，符合DIN EN ISO2178、DIN50982、ASTM B499、E376、D1188、G12、B530、BS5411、ISO2361標(biāo)準(zhǔn)。

 

德國EPK Mikro Test G6涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果受哪些因素影響：

1.鋼鐵基體的磁特性

磁性測(cè)厚儀受基體金屬導(dǎo)磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮，高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會(huì)使讀值偏高。

2.基體金屬厚度

該儀器有一個(gè)基體小臨界厚度值。型號(hào)不同，則該臨界厚度不同。請(qǐng)參考技術(shù)說明指標(biāo)表（表1）。若厚度超過這一小臨界厚度值，測(cè)量值不會(huì)受到影響；反之，則造成讀值偏高。

 

3.邊緣效應(yīng)

該測(cè)量方法對(duì)被測(cè)體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標(biāo)指出了小測(cè)量面積。必須要測(cè)量這種場(chǎng)合時(shí)，一定要經(jīng)過校準(zhǔn)。

4.曲率

被測(cè)量件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，一般凸面造成測(cè)值偏大，凹面則偏小。盡管儀器在設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)這方面有所補(bǔ)償。

5.覆蓋層的厚度

測(cè)厚精度隨覆層厚度變化面變化。對(duì)于薄的覆層，其測(cè)量精度是一個(gè)常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)；對(duì)于厚度的覆層，其精度與覆層厚度近似成正比。

6.剩磁

基體金屬的剩磁對(duì) Mikrotest 測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果會(huì)有影響。

7.磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重影響儀器工作。

8.地球重力

Mikrotest 測(cè)厚儀測(cè)量讀數(shù)受測(cè)頭相對(duì)于地球重力方向影響。

 

 

德國EPK涂層測(cè)厚儀G6-技術(shù)參數(shù)：

型    號(hào)	測(cè)量范圍	讀值精度	小測(cè)量區(qū) 直徑	小半徑 凸    凹 mm    mm	基體小 厚度mm	適合用于
MIKROTEST G 6	0－100μm	1μm或5％讀值	20mm	5   25	0.5	鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層

 

簡(jiǎn)測(cè)實(shí)業(yè)是德國EPK代理商，有Minitest 600系列、Minitest 2500系列、Minitest 725系列、Minitest 735系列、Minitest 745系列等。備有現(xiàn)貨，歡迎咨詢