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大相位差雙折射測量儀WPA-200
  • 大相位差雙折射測量儀WPA-200
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地: 日本

更新時間:2025-01-13 21:00:07

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雙折射測量儀WPA-200系列是Photonic lattic公司以其*世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速而又精確的測量能力使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。
該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布??蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,Z適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品簡介

   雙折射測量儀WPA-200?系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速而又精確的測量能力使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布??蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

 雙折射測量儀WPA-200?特點(diǎn)

操作簡單,測量速度可以快到3秒,

采用CCD Camera,視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。

測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

維護(hù)簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。

 

雙折射測量儀WPA-200?主要應(yīng)用

·         光學(xué)零件(鏡片、薄膜、導(dǎo)光板)

·         透明成型品(車載透明零件、食用品容器)

·         透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL)

·         透明基板(玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石)

·         有機(jī)材料(球晶、FishEve)

參數(shù)指標(biāo)

型號

WPA-200

WPA-200-L

測量范圍

0~30OOnm

重復(fù)性

<1.0nm

像素?cái)?shù)

384×288(≒11萬)pixels

測量波長

523nm,543nm,575nm

尺寸

270×340×560 mm

430×490×910 mm

觀測到的zui大面積

24×32 mm ~ 100×133mm

33×44 mm ~ 240×320mm

重量

13kg

23kg

數(shù)據(jù)接口

GigE(攝像機(jī)信號)   RS232C(電機(jī)控制)

電壓電流

AC100-240V(50/60Hz)

軟件

WPA-View

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