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[供應]YOLO-DY-電子元器件老化測試設(shè)備
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  • YOLO-DY-電子元器件老化測試設(shè)備
貨物所在地:
浙江寧波市
產(chǎn)地:
寧波
更新時間:
2020-02-12 11:10:24
有效期:
2020年2月12日 -- 2021年2月12日
已獲點擊:
200
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產(chǎn)品簡介

本電子元器件老化測試設(shè)備采用了模塊化、標準化組件和元件,可以在室溫至180攝氏度環(huán)境溫度下對電子元器件進行功能、電氣指標的自動化測試,并對測件性能進行評判,可測試8類元器件。

詳細介紹

電子元器件老化測試設(shè)備

產(chǎn)品概述:

探井設(shè)備中的電路板采用的電子元器件在入廠前需要進行從室溫到高溫的功能性定性測試,其目的是為電路板的裝配做元器件的篩選,即對元器件在老化過程中進行功能性測試,保證器件的高可靠性。 
電子元器件老化測試設(shè)備
為某鉆探工程有限公司設(shè)計的電子元器件老化測試設(shè)備,規(guī)格型號為ATE-U09E-HT。設(shè)備由美國NI公司的高性能硬件與軟件,配合國內(nèi)外*的模塊化儀器設(shè)備,結(jié)合我公司自主開發(fā)的信號路由矩陣及標準軟件組成,系統(tǒng)除裝卸件采用手動完成外,測試過程由系統(tǒng)自動完成。 
本設(shè)備采用了模塊化、標準化組件和元件,可以在室溫至180攝氏度環(huán)境溫度下對電子元器件進行功能、電氣指標的自動化測試,并對測件性能進行評判,可測試8類元器件。

產(chǎn)品功能:

序號 

對象 

測試項目 

1

電阻

內(nèi)容

在溫度變化過程中測試,阻值變化

2

電容

內(nèi)容

在溫度變化過程中測試電容值 
耐壓(不同的類型的測試電壓和時間)(DC 100V) 
損耗角正切

3

電感

內(nèi)容

電感值 
飽和電流

4

穩(wěn)壓器

內(nèi)容

額定負載下輸出電壓波動,紋波抑制比

5

二極管

內(nèi)容

正向壓降 
反向擊穿電壓

6

變壓器

工頻變壓器

內(nèi)容

輸入電感,輸出電感(mH),轉(zhuǎn)變比

高頻變壓器

內(nèi)容

1. 輸入電感,輸出電感(mH)
2. 輸入設(shè)定頻率和峰峰值電壓信號,測試輸出信號的頻率和峰峰值 
3.分析波形的失真度

網(wǎng)絡(luò)變壓器

內(nèi)容

1.同軸以太網(wǎng)使用,測試輸出(頻率10MHz) 
2.輸入電感,輸出電感(mH)

性能詳解:

專注于元器件的在線環(huán)境仿真與性能檢測;
室溫至180攝氏度的任意溫度點在線環(huán)境測試,精度可達0.1攝氏度;
可以任意設(shè)置老化溫度點、老化時間與循環(huán)測試時間間隔。
集成自行研發(fā)大規(guī)模信號路由矩陣,資源路數(shù)可達192(×8)×16,同時兼容10MHz帶寬高頻信號及3A功率信號傳輸,通道間絕緣大于1000M歐姆,線路阻抗小于600m歐姆,串擾1MHz小于-60dB。
支持電阻、電容、電感、穩(wěn)壓器、二極管以及變壓器等多種元器件精確測試,測試內(nèi)容涵蓋電阻、電容、電感、紋波抑制比、耐壓等; 
老化板適配夾具耐溫可達270攝氏度,接口可基于元器件任意定制,可*擴展設(shè)備的適用范圍;
自動化測試過程控制,操作簡單,具有強大的數(shù)據(jù)存儲、曲線分析與報表生成功能。

技術(shù)指標:

基本指標


序號 

對象 

范圍 

精度 

1

電阻

1Ω~10MΩ

10Ω以下,精度1%; 
10Ω以上,精度0.5%;

2

電容

1pF~1F

5%

3

電感

10nH~100H

5%

4

電壓

300VAC

0.5%

5

電流

±1 A

0.5%

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