頻譜儀不同設(shè)置讀數(shù)差異的原因--Agitek service

經(jīng)常有人在使用頻譜儀時(shí)遇到這樣的問題：在進(jìn)行信號(hào)的頻譜分析測(cè)試時(shí)，為什么不同的頻譜儀的設(shè)置狀態(tài)，功率電平讀數(shù)不一樣？

情況1 超寬SPAN頻譜測(cè)量

設(shè)置規(guī)則：

測(cè)試頻點(diǎn)間隔<RBW/2，VBW自動(dòng)，參考電平稍大于信號(hào)電平；頻點(diǎn)間隔=SPAN/(測(cè)試點(diǎn)數(shù)-1)。

原理分析：

頻譜儀上每個(gè)測(cè)試值對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試頻段，在測(cè)試點(diǎn)左右1/2頻點(diǎn)間隔的頻段內(nèi)，進(jìn)行掃描多次采樣；

當(dāng)信號(hào)為CW或帶寬小于RBW的窄帶信號(hào)，只有信號(hào)頻率處1個(gè)RBW內(nèi)對(duì)應(yīng)信號(hào)電平，其它采樣值都是噪聲電平；依據(jù)所選擇曲線模式以及檢波器類型算法對(duì)這些采樣值進(jìn)行計(jì)算之后，顯示該頻點(diǎn)測(cè)試值；

曲線平均模式與SAMPLE和AVERAGE檢波器可以一起使用，與其它類型檢波器不兼容，因?yàn)榍€平均模式是算術(shù)平均，與PEAK和RMS等算法沖突；

當(dāng)頻點(diǎn)間隔大于RBW時(shí)，RBW以外的噪聲采樣值，除了峰值檢波器的大值算法以外的其它檢波器或者曲線平均，都會(huì)讓讀數(shù)小于信號(hào)電平，頻點(diǎn)間隔減小會(huì)讓讀數(shù)變大；

當(dāng)信號(hào)帶寬大于RBW時(shí)，電平讀數(shù)等于RBW帶寬內(nèi)部分信號(hào)功率，讀數(shù)始終小于信號(hào)電平，頻點(diǎn)間隔增大會(huì)讓讀數(shù)進(jìn)一步變小。

當(dāng)頻譜儀掃描頻點(diǎn)間隔大于RBW時(shí)，窄帶信號(hào)輸入，頻譜儀設(shè)置與結(jié)果現(xiàn)象總結(jié)：

即時(shí)刷新的曲線模式+峰值檢波，峰值標(biāo)記點(diǎn)讀數(shù)與信號(hào)電平一致；

曲線大保持模式+峰值檢波，峰值標(biāo)記點(diǎn)讀數(shù)與信號(hào)電平一致；

曲線平均模式+峰值檢波，峰值標(biāo)記點(diǎn)讀數(shù)小于信號(hào)電平；

即時(shí)刷新的曲線模式+峰值以外的其它檢波器，峰值標(biāo)記點(diǎn)讀數(shù)小于信號(hào)電平。

情況2 寬帶調(diào)制信號(hào)功率測(cè)量

準(zhǔn)確測(cè)量電平的設(shè)置規(guī)則：

RMS檢波器，頻譜儀中心頻率設(shè)為被測(cè)信號(hào)中心頻率，SPAN設(shè)為3至5倍信號(hào)帶寬，測(cè)量模式設(shè)為band power或者channel power，模式中設(shè)置信號(hào)帶寬涵蓋真實(shí)信號(hào)帶寬，RBW<SPAN/1000，VBW>RBW，終讀取band power或者channel power數(shù)值，代表信號(hào)電平;

RMS與曲線平均模式不兼容，要獲得穩(wěn)定的RMS頻譜曲線，需延長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間。

不滿足設(shè)置規(guī)則要求時(shí)，頻譜儀設(shè)置與結(jié)果現(xiàn)象總結(jié)：

即時(shí)刷新的曲線模式+峰值檢波，power讀數(shù)大于信號(hào)電平；

曲線大保持模式+RMS檢波，power讀數(shù)大于信號(hào)電平；

曲線平均模式+RMS檢波，power讀數(shù)小于信號(hào)電平；

VBW<RBW，RMS或AV檢波，power讀數(shù)小于信號(hào)電平。

情況3 寬帶噪聲功率密度測(cè)量

正確的設(shè)置規(guī)則：必須RMS或SAMPLE檢波器，RMS檢波器時(shí)VBW=3*RBW，曲線不可平均；SAMPLE檢波器時(shí)VBW=0.1*RBW，可以曲線平均；標(biāo)記marker功能選擇noise，讀取噪聲功率密度。

不滿足設(shè)置規(guī)則要求時(shí)，讀數(shù)可能出現(xiàn)較大偏差。

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