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OCI-V-光矢量分析儀
OCI-V-光矢量分析儀

貨物所在地：湖北武漢市

更新時(shí)間：2025/1/22 21:00:25

訪問次數(shù)：29

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供應(yīng)簡(jiǎn)介
光矢量分析儀OCI-V是一款快速檢測(cè)光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。


詳細(xì)介紹

武漢東隆科技有限公司自研的光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設(shè)計(jì)以及先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡(jiǎn)單，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。


特點(diǎn)：

  • 自校準(zhǔn)

  • 測(cè)量長(zhǎng)度：200m

  • 波段：C+L、O波段（可選）

  • 1秒內(nèi)測(cè)量多種光學(xué)參數(shù)


應(yīng)用：

  • 平面波導(dǎo)器件

  • 硅光器件

  • 光纖器件

  • 波長(zhǎng)可調(diào)器件、放大器、濾波器

測(cè)量參數(shù)：

  • 偏振相關(guān)損耗PDL

  • 偏振模色散PMD

  • 插損IL

  • 群延時(shí)GD

  • 色散CD

  • 瓊斯矩陣參數(shù)

  • 光學(xué)相位


參數(shù)：

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