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OLI-光纖微裂紋檢測(cè)儀
OLI-光纖微裂紋檢測(cè)儀

貨物所在地:湖北武漢市

更新時(shí)間:2025/1/22 21:00:25

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供應(yīng)簡(jiǎn)介
光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù),利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。


詳細(xì)介紹

光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù),利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗,進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。

該系統(tǒng)輕松查找并精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)以及鏈路連接點(diǎn)。其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米,可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào),廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。


特點(diǎn):

  • 超高采樣分辨率和定位精度

  • 超寬動(dòng)態(tài)范圍

  • 可定制引纖長(zhǎng)度,便于匹配實(shí)際測(cè)量環(huán)境

  • 可定制掃描測(cè)量長(zhǎng)度

  • 支持多通道測(cè)量升級(jí)


應(yīng)用:

  • 光纖微裂紋檢測(cè)

  • 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

  • FA光纖陣列鏈路性能檢

  • 合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)


參數(shù):

注:

1. 可選其它波段;

2.

可定制其他長(zhǎng)度;

3.

引纖長(zhǎng)度可定制。


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