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上海西努光學(xué)科技有限公司

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原子力顯微鏡是怎么測(cè)得樣品成像的?

閱讀:239      發(fā)布時(shí)間:2022-8-29
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  原子力顯微鏡是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。
  當(dāng)使用原子力顯微鏡對(duì)樣品成像時(shí),*端與樣品接觸,樣品沿x-y網(wǎng)格進(jìn)行光柵掃描。常見的是,在掃描過程中使用電子反饋回路來保持探針樣品力常數(shù)。該反饋回路以懸臂偏轉(zhuǎn)為輸入,其輸出控制探針支架和樣品支架之間沿z軸的距離。只要*端與樣品保持接觸,并且樣品在x-y平面上掃描,樣品的高度變化將改變懸臂的偏轉(zhuǎn)。然后,反饋調(diào)節(jié)探頭支架的高度,使偏轉(zhuǎn)恢復(fù)到用戶定義的值(設(shè)定點(diǎn))。適當(dāng)調(diào)整的反饋回路在掃描運(yùn)動(dòng)期間連續(xù)調(diào)整支架-樣品分離,使得偏轉(zhuǎn)保持近似恒定。在這種情況下,反饋輸出等于樣品表面形貌,誤差很小。
  西努提供的Park XE15原子力顯微鏡提供的流程如下:
  1.記錄用戶定義的多個(gè)掃描位置
  2.在第一個(gè)掃描位置成像
  3.提升懸臂
  4.將電動(dòng)樣品臺(tái)移至下一個(gè)用戶定義坐標(biāo)
  5.探針接近
  6.重復(fù)掃描
  記錄多個(gè)掃描位置十分簡(jiǎn)單,您可以輸入樣品-樣品臺(tái)坐標(biāo)或使用兩個(gè)參考點(diǎn)校正樣品位置。該自動(dòng)化功能大大減少您在掃描過程中需要的工作,極大提高了生產(chǎn)力。

 

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