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上海儀電分析紫外可見分光光度計(jì)
  • 上海儀電分析紫外可見分光光度計(jì)
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貨物所在地:廣東廣州市

地: 上海

更新時(shí)間:2024-09-14 09:17:56

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上海儀電分析紫外可見分光光度計(jì)760CRT是軟件基于Windows 7平臺(tái)的全自動(dòng)分光光度計(jì),界面友好、美觀,操作簡(jiǎn)單,通過打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測(cè)試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理,可將圖譜貼至Word中發(fā)表。儀器具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、定量分析、定波長(zhǎng)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試等功能,適合用于醫(yī)藥、藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究

上海儀電分析紫外可見分光光度計(jì)760CRT


        760CRT 雙光束紫外可見分光光度計(jì)是軟件基于Windows 7平臺(tái)的全自動(dòng)分光光度計(jì),界面友好、美觀,操作簡(jiǎn)單,通過打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測(cè)試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理,可將圖譜貼至Word中發(fā)表。儀器具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、定量分析、定波長(zhǎng)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試等功能,適合用于醫(yī)藥、藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究工作的需要。 

主要特點(diǎn): 
● 采用全息閃耀光柵,雙光束 C - T 式光路結(jié)構(gòu),高分辨率,低雜散光,測(cè)光精度高,穩(wěn)定性能好。 
● 微機(jī)控制,自動(dòng)記錄,打印機(jī)可在一張記錄紙上打印出含有光譜圖、測(cè)試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)的測(cè)試報(bào)告。 
● 光源自動(dòng)轉(zhuǎn)換(可在294nm ~ 364nm間任意設(shè)定) 
● 功能強(qiáng)大的光譜處理能力。 
● 采用長(zhǎng)壽命進(jìn)口光電倍增管,進(jìn)口氘燈和長(zhǎng)壽命鎢燈。 

軟件特點(diǎn): 
● 信息存貯容量大,保存方便。 
● 軟件提供四個(gè)圖譜通道臨時(shí)貯存圖譜,進(jìn)行圖譜疊加處理,對(duì)圖譜可進(jìn)行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運(yùn)算、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算。 
● 圖譜的峰谷檢測(cè)、縮放輕松自如。 
● 時(shí)間掃描可進(jìn)行動(dòng)力學(xué)研究。 
● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進(jìn)行曲線擬合及異常點(diǎn)剔除、2λ的測(cè)定。 
● 軟件提供了定波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)測(cè)試,并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行注釋,對(duì)同一樣品多用戶的測(cè)試提供了方便,多波長(zhǎng)測(cè)試則可進(jìn)行多達(dá)20個(gè)點(diǎn)波長(zhǎng)的測(cè)試。
● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測(cè)試條件。 


上海儀電分析紫外可見分光光度計(jì)760CRT:
技術(shù)指標(biāo): 
● 測(cè)光方式: 雙光束 
● 單色器: Czerny - Turner 
● 焦距: 200mm 
● 光柵: 全息閃耀,1600線/mm 
● 光束分光系統(tǒng): 斬波器 
● 檢測(cè)器: 進(jìn)口光電倍增管 
● 光譜帶寬: 0.08 ~ 5nm,間隔0.01nm連續(xù)可調(diào) 
● 波長(zhǎng)設(shè)定: 電腦輸入 
● 波長(zhǎng)范圍: 190nm ~ 900nm 
● 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度: ±0.3nm (內(nèi)裝自動(dòng)波長(zhǎng)校正裝置) 
● 波長(zhǎng)重復(fù)性: ≤ 0.2nm 
● 分辨率: 優(yōu)于 0.15nm 
● 光度準(zhǔn)確度: ±0.3% (T) (以NBS930D測(cè)定) 
● 光度重復(fù)性: ≤ 0.2% (T) 
● 雜散光: ≤0.08% (T) (在220nm處,以Nal測(cè)定) (在360nm處,以NaNO2測(cè)定) 
● 基線平直度: ≤±0.002 (A) 
● 噪聲: ±0.3% ( (100 T%處) ±0.1% (0 T%處) 
● 掃描速度: 快、中、慢 
● 基線漂移: ≤±0.004 A/30min 
● 電源電壓: AC220V±22V 50Hz±1Hz 
● 功率: 300 W

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