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束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司

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08-212024
晶體日記（十六）：APEX4 -從“數(shù)據(jù)庫”里尋找答案
1122次閱讀
08-212024
應(yīng)用分享 | 異形器件的失效分析測試方案之原位XPS+AES
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08-212024
應(yīng)用分享 | 固態(tài)電池中電解質(zhì)/金屬鋰界面的XPS-HAXPES表征
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08-172024
X射線顯微成像系統(tǒng)：科技的眼，洞察微觀世界
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08-142024
應(yīng)用分享 | GCIB團(tuán)簇離子尺寸的自主調(diào)控和實(shí)際測量
1590次閱讀
08-142024
應(yīng)用分享 | 燃料電池電極界面的XPS-HAXPES表征
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08-142024
晶體日記（十五）- 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量（2）
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08-142024
晶體日記（十四） - 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量（1）
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08-082024
晶體日記（十三） - “心結(jié)”
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08-082024
晶體日記（十二）-尋找“Q”峰背后的原因(5)：無意的無序
1084次閱讀
08-082024
應(yīng)用分享 | FIB-TOF‖高效的TOF-SIMS深度分析
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08-082024
應(yīng)用分享 | 鈣鈦礦太陽能電池中的能級調(diào)控和改性
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07-302024
怎么才能延長X射線三維成像系統(tǒng)的使用壽命
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07-242024
晶體日記（十一）-尋找“Q”峰背后的原因(4):“單選題”or“多選題”
1956次閱讀
07-242024
晶體日記（十）- 尋找“Q”峰背后的原因(3)：孿晶有“鬼”
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07-242024
應(yīng)用分享 | TOF-SIMS在光電器件研究中的應(yīng)用二
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07-242024
應(yīng)用分享 | PHI XPS對科學(xué)研究的重要作用
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07-172024
應(yīng)用分享 | TOF-SIMS在光電器件研究中的應(yīng)用
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07-172024
應(yīng)用分享 | HAXPES∣多層結(jié)構(gòu)器件界面的無損深度分析案例
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07-172024
應(yīng)用分享 | X射線反射率(X-ray reflectivity, XRR)
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