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IC卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
IC卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機簡介：本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。
IC卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機技 術 參 數(shù)
1. 型號：MX-IC
2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°，總扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電 壓：AC220V±5%
11.外形尺寸：L670 X W380 X H220
12.功 率：35W
13.儀器重量：70kg
根據(jù)客戶要求訂制：雙向扭轉(zhuǎn)大工位數(shù)：10工位
