可程式 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

主要技術(shù)參數(shù)：

　1、溫度波動(dòng)度：±1.0℃；

　2、溫度均勻度：±2.0℃；

　3、轉(zhuǎn)換時(shí)間：冷熱沖擊溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間為8S；

　4、沖擊恢復(fù)時(shí)間：－40-- ＋150℃ 約需  5min；

　5、試驗(yàn)槽溫度使用范圍：－40℃-- +150℃；

　6、高溫槽溫度設(shè)定范圍：+40℃-- ＋180℃；

　7、高溫槽升溫時(shí)間：RT（室溫）-- ＋150℃約需40min （室溫在＋10-- ＋30℃時(shí)）；

　8、低溫槽溫度設(shè)定范圍：－10℃-- －70℃；

　9、低溫槽降溫時(shí)間：RT（室溫）--  - 40℃約需45min（室溫在＋10-- ＋30℃時(shí)）；

可程式 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

功能特點(diǎn)：

　1、兩相式，試品移動(dòng)；

　2、沖擊方式：二溫選擇；

　3、大容量程式設(shè)置，強(qiáng)大數(shù)據(jù)管理功能；

　4、能提供高低溫突變的試驗(yàn)環(huán)境，供產(chǎn)品試驗(yàn)用；

　5、大屏幕彩色顯示運(yùn)行狀態(tài)，液晶觸摸屏，中英文選擇；

　6、采用泰康/比澤爾壓縮機(jī)，提高制冷效率，特別節(jié)省能；

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法