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彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)
  • 彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)
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貨物所在地:浙江杭州市

產(chǎn)地: 杭州

更新時間:2025-06-05 21:00:08

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彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)
測量光源:CIE-A、CIE-C、CIE-D65
光譜范圍:400-700nm
◆:測量平行平面材料的霧度、總透過率、光譜投射性能及色度LAB參數(shù)

彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)

超大幅面屏幕霧度透光率檢測系統(tǒng)-圖一.png

這是一臺設(shè)計(jì)用于測定塑料、薄膜、玻璃制品、LCD面板等透明、半透明平行平面材料的霧度、總透光率、光譜透射性能以及色度Lab參數(shù)的設(shè)備。

一、產(chǎn)品特性介紹:

1. 具備超大幅面載物平臺,可完成超大幅面樣品的測試,大可支持2.6*1.6m樣品上每個點(diǎn)的測試。

2. 具備超大幅面載物平臺,并具備氣浮功能,大可承受200KG的樣品在平臺表面輕松移動,使超大超重的樣品測試起來輕松方便。

3. 具備翻轉(zhuǎn)上料功能,平臺分為兩部分,一部分固定不動,另一部分可進(jìn)行翻轉(zhuǎn),翻轉(zhuǎn)好后,樣品可放置到翻轉(zhuǎn)后的平臺上,再翻轉(zhuǎn)回水平位置,方便超大超重的樣品運(yùn)送到平臺上測試。

4. 采用一體機(jī)電腦作為顯示屏,擁有良好的人機(jī)交互界面。

5. 符合以下測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2410標(biāo)準(zhǔn)、ASTM D 1003標(biāo)準(zhǔn)。

6. 滿足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三種標(biāo)準(zhǔn)照明光源下的霧度與全透過率以及Lab測量。

7. 提供專業(yè)的霧度以及透過率的測量分析軟件,可以滿足用戶對測試數(shù)據(jù)的分析以及管理。

二、產(chǎn)品細(xì)節(jié)


三、產(chǎn)品參數(shù):

名稱

超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)

光源

CIE-A、CIE-C、CIE-D65

遵循標(biāo)準(zhǔn)

ASTMD1003、GB/T2410、CIENo.一5

測量參數(shù)

霧度(HAZE)、透過率(T),CIE Lab

光譜響應(yīng)

CIE光譜函數(shù)Y/V(λ)

波長范圍

400-700nm

波長間隔

10nm

光路結(jié)構(gòu)

0/d

照明與樣品孔徑尺寸

16.5mm/21mm

測量范圍

霧度:0-*
透過率:0-*

分辨率

霧度:0.01%
透過率:0.01%

重復(fù)性

霧度≤0.1%
透過率≤0.1%

樣品大小

厚度≤145mm

顯示

22英寸顯示屏(可定制)

接口

USB接口

電源

220V

載物面積

3100*2100mm(可定制)

載重

大可承受200KG的樣品輕松移動

體積:長XX

3700*2200*1650mm

 

彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統(tǒng)

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