徠卡第六代三維視頻顯微鏡(DVM 6)是徠卡自主研發(fā)，顛覆傳統(tǒng)的革命性產(chǎn)品。數(shù)字技術(shù)已經(jīng)在很多方面

為我們的工作和日常生活帶來了革命性變化，而這樣的創(chuàng)新也將永無止境地進(jìn)行下去。工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域?qū)?

觀成像、顯微成像和圖像處理均有著嚴(yán)格的要求，創(chuàng)新的數(shù)字技術(shù)將使其尤為受益。徠卡顯微系統(tǒng)有限公

司的數(shù)字顯微鏡在機(jī)動性和速度兩方面開創(chuàng)了新維度。

在諸多應(yīng)用場合下，它能為傳統(tǒng)方式提供理想的質(zhì)量控制輔助。數(shù)字顯微鏡生成的圖像將直接顯示

在高分辨率顯示器上，因此您無需透過目鏡觀察。變倍光學(xué)元件采用流線型設(shè)計，即使是極難觸及的表

面也能有效深入，相對于費(fèi)時費(fèi)力的傳統(tǒng)顯微鏡檢驗技術(shù)，它甚至還能對大型靜態(tài)部件進(jìn)行無損檢驗。

Leica DVM6數(shù)字顯微鏡不僅具備出眾的光學(xué)品質(zhì)，還在量化分析方面表現(xiàn)*，無論是二維分析還是高

級三維表面測量。設(shè)備一體化設(shè)計，功能高度集成，外觀給您簡潔大方，接觸使用給您不負(fù)眾望！

無論您從事的是質(zhì)量保證、失效分析、研發(fā)還是qu證的工作，Leica DVM6視頻顯微鏡都提供能快速、可

靠和易用的解決方案。

光學(xué)組件-PLANAPO物鏡 

徠卡的數(shù)字圖像和光學(xué)圖像一樣出色。徠卡是光學(xué)行 業(yè)的先鋒和精密顯微成像的shi界領(lǐng)xian企業(yè)。公司的歷

史及那股提供高細(xì)節(jié)度和清晰度樣品圖像的激情可追溯到160多年前。徠卡工程師不但消除了光學(xué)像差，

還不斷爭取獲得更的高分辨率-DVM6 PLANAPO光學(xué)鏡頭。PLANAPO光學(xué)裝置的優(yōu)點：大的光學(xué)校正能

力；至邊界區(qū)非常詳細(xì)的圖像細(xì)節(jié)；在變焦范圍內(nèi)無彩色邊紋。

超高分辨率成像-1000萬物理像素攝像頭 

與利用插值和耗時像素移動的視頻顯微鏡不同，DVM6的核心包含一個本地1000萬像素攝像系統(tǒng)。每秒37幀以上的快速實時圖像顯示可以讓您的手和肉眼協(xié)調(diào)，以確保操作的舒適。將攝像機(jī)與變焦模塊相結(jié)合，則可提供完善的污染防護(hù)。

16：1變倍比  

16:1變焦范圍：放大倍數(shù)使觀察分析更多樣，只需 一個旋轉(zhuǎn)動作，您便可以看到16倍的放大比例，高放

大倍數(shù)達(dá)到2350倍。

真正無限極速變倍

秉承徠卡體式顯微鏡無極連續(xù)變倍能力，無論您調(diào)節(jié)紅色變焦環(huán)到什么位置，DVM6都能精準(zhǔn)對應(yīng)當(dāng)前倍

率，并顯示在屏幕上方。 

自動景深合成：EDOF 

無需繁瑣的上下限設(shè)置，無需人為判斷起始位置終止位 置，只需選擇一鍵EDOF，即可在視野內(nèi)完成高低景深

合成。

無限制視野擴(kuò)展功能

當(dāng)您希望在高倍率下獲得更大視野，只需一鍵數(shù)秒后視野擴(kuò)展即可完成，并且徠卡DVM6視野擴(kuò)展功能不僅滿足二 維三維視野擴(kuò)展，而且視野擴(kuò)展區(qū)域不受像素限制，大可延伸到XY掃描區(qū)域。

您可以輕松地單手傾斜觀察，便可只將注意力用在監(jiān)視器上進(jìn)行樣品研究。在默認(rèn)情況下，傾斜軸與 焦點對準(zhǔn)，因此在- 60°至+ 60°的任何角度，您可以看到樣品永遠(yuǎn)在焦點以內(nèi)。旋轉(zhuǎn)載物臺從全新的視角 觀察樣品，有助于您找到要找的細(xì)節(jié)信息。 智能多角度觀察系統(tǒng)可在屏幕上方顯示實時的放大倍率、支架的傾斜角度、載物臺的旋轉(zhuǎn)角度，并且 保存圖片后，這些參數(shù)全部保留到圖片文件夾，方便日后追溯。當(dāng)您支架傾斜過大，預(yù)警傳感器會發(fā)出警 示音，提醒您防止鏡頭碰觸到載物臺導(dǎo)致?lián)p壞。

實時精準(zhǔn)測量

您的照明選擇決定了您看到的內(nèi)容。 您可以根據(jù)樣品、應(yīng)用和任務(wù)選擇不同的集成LED照明選項。在粗糙表面

全部或部分使用環(huán)形光，或者為扁平 反射樣品選擇同軸照明。您還可以將照明模式結(jié)合起來，以揭示您以前從未見過的細(xì)節(jié)。觀察扁平反射樣品 時，用于明/暗控制的四分之一波片 控制。減小對比度，以強(qiáng)調(diào)輕微不平

整性，例如劃痕。