全歐光學(xué)WaveMaster波前測(cè)量?jī)x用于球面透鏡，非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測(cè)量，集成了準(zhǔn)直系統(tǒng)，擴(kuò)束或縮束系統(tǒng)，高精度樣品臺(tái)，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測(cè)，光學(xué)系統(tǒng)像差檢測(cè)，輸出激光光束質(zhì)量檢測(cè)，光束動(dòng)態(tài)變化檢測(cè)，自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測(cè)，并有針對(duì)大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測(cè)的解決方案。WaveMaster波前測(cè)量?jī)x主要用來(lái)測(cè)量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場(chǎng)波前，還可給出被測(cè)樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數(shù)（Zernike），點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），調(diào)制傳遞函數(shù)，斯特列爾比，楔角。同時(shí)，該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測(cè)，晶體低階和高階的相差，晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF），晶體的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡(jiǎn)單易用，用戶(hù)可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。

WaveMaster® COMPACT系列產(chǎn)品可以簡(jiǎn)單快速的完成對(duì)球面或非球面鏡片波前質(zhì)量的檢測(cè)，并運(yùn)用澤尼克多項(xiàng)式實(shí)時(shí)分析波前數(shù)據(jù)，在生產(chǎn)和研發(fā)上都有著廣泛應(yīng)用。WaveMaster® COMPACT2 Universal是專(zhuān)業(yè)級(jí)的波前測(cè)量?jī)x，集成了WaveMaster® COMPACT2和WaveMaster® COMPACT2 Reflex所有功能。

應(yīng)用范圍：

• 各種球面或非球面鏡片光學(xué)波前面和鏡片或鏡頭的表面面形的檢測(cè)。