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目錄:聯(lián)合光科技(北京)有限公司>>測量儀器>>光學(xué)器件性能檢測儀器>> 750175人工晶體波前測量儀

人工晶體波前測量儀
  • 人工晶體波前測量儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌 聯(lián)合光科
  • 型號 750175
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2024-04-02 10:11:23瀏覽次數(shù):87評價

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
WaveMaster® IOL 2人工晶體波前測量儀是一款基于波前測量,可用于單焦、環(huán)曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。

全歐光學(xué)WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡,非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測量,集成了準(zhǔn)直系統(tǒng),擴(kuò)束或縮束系統(tǒng),高精度樣品臺,多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理,用于平面、球面、非球面面型的檢測,光學(xué)系統(tǒng)像差檢測,輸出激光光束質(zhì)量檢測,光束動態(tài)變化檢測,自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測,并有針對大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場波前,還可給出被測樣品的面型(PV和RMS),澤尼克系數(shù)(Zernike),點擴(kuò)散函數(shù)(PSF),調(diào)制傳遞函數(shù),斯特列爾比,楔角。同時,該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測,晶體低階和高階的相差,晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF),晶體的點擴(kuò)散函數(shù)(PSF),晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能,簡單易用,用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。

WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量,可用于單焦、環(huán)曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發(fā),也可用于的生產(chǎn),主要測量屈光度,像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設(shè)備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環(huán)境中測量,也可實現(xiàn)對環(huán)曲面人工晶體的MTF測量。

應(yīng)用范圍

  • 人工晶體在空氣中和模擬眼中的波前檢測

  • 屈光度和散光度的檢測

  • 低階和高階像差(澤尼克分析)的檢測

  • 像質(zhì)(MTF)檢測

  • 環(huán)形人工晶體的軸偏差及標(biāo)識自動識別


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