天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 返回列表頁

 天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 分析原理
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件，相對簡單。

波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：Q=kE式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；k為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

 天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 技術(shù)指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%RoHS指令規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢測限達1PPM；測量時間：60-200秒溫度適應范圍為15℃30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）三維自由度超大的樣品腔設(shè)計，樣品腔尺寸：Φ450 x 90 mm一次可同時分析24個元素重量：110 kg
EDX1800B檢測儀性能
半導體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動濾光片選擇多種準直器自動自由切換三重安全保護模式相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動開關(guān)軟件定位樣品平臺，小位移 0.01 mm自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品特別開發(fā)。