天瑞儀器X熒光光譜測厚儀 返回列表頁

  天瑞儀器X熒光光譜測厚儀  項       目 參        數(shù) 
測量元素范圍 Cl（17）-U（92） 
涂鍍層分析范圍 P（15）-U（92）可區(qū)分檢測電鍍鎳和化學(xué)鎳 
分析軟件 EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析 
軟件操作 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤 
X射線裝置 W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管 
準(zhǔn)直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；四準(zhǔn)直器自動切換 
近測距光斑擴(kuò)散度 10% 
測量距離 具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm) 
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能 
對焦方式 高敏感鏡頭，手動對焦 

放大倍數(shù) 光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍 
  天瑞儀器X熒光光譜測厚儀樣品臺尺寸 500mm*360mm 
移動方式 高精密XY手動滑軌 
可移動范圍 50mm*50mm 
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱 
廠家介紹

X熒光測厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司，新款Thick 8000X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應(yīng)用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987