鍍錫厚度檢測(cè)儀Thick800A,天瑞儀器 返回列表頁(yè)

 鍍錫厚度檢測(cè)儀Thick800A,天瑞儀器 技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
產(chǎn)品名稱(chēng)：鍍錫層厚度測(cè)試儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃30℃。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

 鍍錫厚度檢測(cè)儀Thick800A,天瑞儀器 標(biāo)準(zhǔn)配置

開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。

Thick800A性能特點(diǎn)

1) 整體結(jié)構(gòu)化設(shè)計(jì)，儀器美觀大方。
2) 采用美國(guó)新型的SDD探測(cè)器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析且維護(hù)成本低。
3) 采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)（數(shù)字多道），有效提高峰背比，讓測(cè)量更。
4) 一鍵式自動(dòng)測(cè)試，使用更簡(jiǎn)單，更方便，界面更人性化。
5) 多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)屬于同類(lèi)產(chǎn)品。
Thick800A應(yīng)用領(lǐng)域
1、鍍層分析領(lǐng)域             2、合金分析領(lǐng)域
鍍層厚度分析           銅合金成分分析
鍍層成分檢測(cè)           不銹鋼成分分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)           鋁合金成分分析

鋁業(yè)表面處理加工及PCB線路板，LED支架，連接器等金Au 銀Ag鈀Pd銠Rh鎳Ni錫Sn銅
鍍錫層厚度測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于PCB板企業(yè)、國(guó)家電網(wǎng)企業(yè)及供應(yīng)商，五金企業(yè)、電子企業(yè)、LED照明企業(yè)、電鍍企業(yè)、印制電路、半導(dǎo)體芯片、框架和連接器、中國(guó)電力科研院校等。
 公司生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS測(cè)量?jī)x，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。