美國GE/MSEB4|MSEB2S雙晶保護膜探頭應用|京海興樂科技（北京）有限公司現貨提供

應用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

特點

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產品）

 

系列	型號	頻率 BS	1	側裝	24mm	ES45
1
2
2.25
4
5
1	頂裝
2
4
5

 

 

 

 

 

 

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

B1S-EN

25

Lemo 01

B1S

B2S

B2.25SE

B4S

B5S

B1S-O

B2S-O

B4S-O

B5S-O