Agilent 7700x/7800 系列 ICP-MS 八極桿反應池系統(tǒng) (ORS) 將碰撞/反應池 (CRC) 技術(shù)應用于飲用水中痕量金屬元素的環(huán)境分析中。ORS 經(jīng)過優(yōu)化后顯著改 善了氦碰撞模式消除多原子干擾的的性能。He 模式具有簡單、普遍適用的特點， 使 7700x/7800 ICP-MS 在一套條件下就能夠消除所有多原子干擾，不需要事先 了解任何關(guān)于樣品的組成方面的情況，不需要任何復雜的數(shù)學校正。其結(jié)果是易 于設置、降低了檢出限、加快了分析速度、改善了干擾消除能力，尤其是對于那 些棘手的來自等離子體的影響鐵和硒的干擾。現(xiàn)在，氦模式中硒的檢出限通常小 于 20 ppt。

更好的靈敏度，更好的準確度，更好的動態(tài)范圍 除更的碰撞/反應池之外，安捷倫7700x/7800 ICP-MS 還采 用了改進的離子透鏡與全新檢測器，因此與前代 ICP-MS 相 比具有更高的靈敏度與更低的背景。對于常規(guī)的水樣分析， 無論是干凈的市政井水還是高總?cè)芙夤腆w (TDS) 的礦物質(zhì) 水，都不需要特殊的調(diào)諧和佳化。所有儀器佳化全部 自動完成，包括全新的一次點擊式等離子體設置 (One-click Plasma Setting) 功能進行快速自動等離子體設置，更快更 為重現(xiàn)的自動調(diào)諧功能（專家自動調(diào)諧 Expert AutoTune）。

圖 1 是 7700x ICP-MS 得到的典型的校準曲線。為了穩(wěn)定 Ag、Sb 和 Hg，所有校準標準都含 1% HNO3 和 0.5% HCl。 ICP-MS 中為了避免 Cl 基對 As、Se、Cr 和 V 的干擾，通 常不使用 HCl 的，但 ORS 不用使用氫氣或其它反應氣體， 直接用氦模式能夠消除這類干擾。3.7 ppt 的 V 的背景相當 濃度值 (BEC) 證明了 7700x 在氦模式時有效消除了 ClO+ 對 51 質(zhì)量的干擾。這種干擾采用其他手段是很難消除的，通 常需要高反應池氣體，比如 NH3 或 NH3/He，而這些氣體 不適合于多元素分析的。