Agilent 5110 ICP-OES *變革了 ICP-OES 分析。樣品通量更高、氣體 消耗更低，其的分析性能讓您輕松應(yīng)對復(fù)雜樣品。5110 SVDV 擁 有*的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)，該技術(shù)可以在一次測量中自動選 擇并同時測定來自穩(wěn)定的垂直等離子體發(fā)出的全波段范圍內(nèi)的水平和 垂直方向的光。這一性能，再加上高速 VistaChip II CCD 檢測器和 創(chuàng)新的 SVS 2+ 切換閥，造就了*樣品通量高、每個樣品分析的 氣體消耗量小的 ICP-OES。水平觀測的垂直炬管和冷錐接口 (CCI) 等 技術(shù)使得 5110 能夠分析含有高達(dá)百分含量總?cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 樣品， 同時擁有出色的線性動態(tài)范圍。這些性能有助于大限度減少額外的 樣品稀釋或同一樣品多次讀數(shù)的需要，進(jìn)一步提高樣品通量。

傳統(tǒng)的雙向觀測 (DV) ICP-OES 儀器存在一定的不 足，尤其是耐用性和分析速度。大多數(shù)傳統(tǒng)雙向觀 測系統(tǒng)使用的是水平炬管，而非更耐用的垂直炬 管。這會影響炬管壽命，還會限制系統(tǒng)的基質(zhì)應(yīng)對 能力。由于需要依次進(jìn)行垂直和水平觀測，分析速 度也打了折扣。與傳統(tǒng) DV ICP-OES 儀器相比，帶 DSC 技術(shù)的 Agilent 5110 SVDV ICP-OES 的創(chuàng)新設(shè)計(jì) 消除了這兩個不利因素，可提供的分析速度和 性能。