詳細(xì)介紹
徠卡DM12000M半導(dǎo)體檢測高端金相顯微鏡,可實(shí)現(xiàn)大型12寸晶圓觀察,常規(guī)金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析??膳浣?/span>Leica攝像頭,熱臺(tái)等配件。
DM12000M高級(jí)智能數(shù)字式正置顯微鏡,適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析,多種安全設(shè)計(jì),保護(hù)晶圓,鏡頭及觀察者。
徠卡DM12000M顯微鏡的晶圓檢測顯微鏡采用模塊設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)反射觀察、透射觀察配置;
復(fù)消色差光路,整體支持25mm視野直徑;
DM1200M高端金相顯微鏡可選配UV光源,提高觀察分辨率至亞微米機(jī)構(gòu),UV由大功率LED產(chǎn)生,具有UV和OUV功能;
徠卡研究機(jī)顯微鏡DM1200M配置12x12大樣品臺(tái),可觀察晶圓,LCD等大尺寸樣品;
6孔位電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)盤,配接32mm直徑長工作距離工業(yè)物鏡;
內(nèi)置電動(dòng)或手動(dòng)調(diào)焦系統(tǒng);
徠卡精密復(fù)檢顯微鏡DM1200M獨(dú)有0.7x宏光物鏡,具有宏光晶圓檢查功能。
徠卡DM12000M半導(dǎo)體檢測高端金相顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn):
四倍視野
徠卡DM12000M的宏觀放大功能,使您可以比傳統(tǒng)掃描物鏡多看四倍以上的視野。
人體工學(xué)設(shè)計(jì)
DM12000M顯微鏡非常適合長時(shí)間在顯微鏡上工作,直觀操作適應(yīng)任何程度的使用者。
極限分辨率
作為高端金相顯微鏡,徠卡DM12000M全新的傾斜紫外模式(OUV) 在紫外光基礎(chǔ)上結(jié)合了傾斜光設(shè)計(jì)理念,確保您可以從任何角度都得到可見物理光學(xué)的極限分辨率。