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敞開(kāi)式直線光柵尺德國(guó)海德漢Heidenhain
敞開(kāi)式直線光柵尺設(shè)計(jì)用于對(duì)測(cè)量精度要求*的機(jī)床和系統(tǒng)。

典型應(yīng)用包括：

半導(dǎo)體業(yè)的測(cè)量和生產(chǎn)設(shè)備
PCB電路板組裝機(jī)
超高精度機(jī)床
高精度機(jī)床
測(cè)量機(jī)和比較儀，測(cè)量顯微鏡和其它精密測(cè)量設(shè)備
直驅(qū)電機(jī)

敞開(kāi)式直線光柵尺德國(guó)海德漢Heidenhain

敞開(kāi)式直線光柵尺

敞開(kāi)式直線光柵尺設(shè)計(jì)用于對(duì)測(cè)量精度要求*的機(jī)床和系統(tǒng)。

典型應(yīng)用包括：

半導(dǎo)體業(yè)的測(cè)量和生產(chǎn)設(shè)備
PCB電路板組裝機(jī)
超高精度機(jī)床
高精度機(jī)床
測(cè)量機(jī)和比較儀，測(cè)量顯微鏡和其它精密測(cè)量設(shè)備
直驅(qū)電機(jī)

式編碼器

系列	說(shuō)明
LIC	LIC敞開(kāi)式直線光柵尺能夠?qū)π谐踢_(dá)28 m和高速運(yùn)動(dòng)進(jìn)行位置測(cè)量。其尺寸和安裝方式與LIDA 400相同。

輸出位置值的編碼器

系列	說(shuō)明
LIP 200	LIP 211和LIP 291增量式直線光柵尺輸出位置值的位置信息。正弦掃描信號(hào)在讀數(shù)頭中被高倍頻細(xì)分且其計(jì)數(shù)功能將細(xì)分的信號(hào)轉(zhuǎn)換成位置值。與所有增量式編碼器一樣，借助參考點(diǎn)確定原點(diǎn)。

增量式編碼器

系列	說(shuō)明
LIP	超高精度 LIP敞開(kāi)式直線光柵尺擁有極小的測(cè)量步距，*的精度和重復(fù)精度。掃描方式為干涉掃描，測(cè)量基準(zhǔn)為DIADUR相位光柵。
LIF	高精度 LIF敞開(kāi)式直線光柵尺的測(cè)量基準(zhǔn)是SUPRADUR工藝制造的玻璃基體光柵，采用干涉掃描方法。特點(diǎn)是精度高和重復(fù)精度高，安裝特別簡(jiǎn)單，有限位開(kāi)關(guān)和回零軌。特殊型號(hào)的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空環(huán)境中（參見(jiàn)其單獨(dú)“產(chǎn)品信息”）。
LIDA	高速運(yùn)動(dòng)和大測(cè)量長(zhǎng)度 LIDA敞開(kāi)式直線光柵尺特別適合運(yùn)動(dòng)速度達(dá)10 m/s的高速運(yùn)動(dòng)應(yīng)用，支持多種安裝方式，安裝特別簡(jiǎn)單。根據(jù)相應(yīng)應(yīng)用要求，METALLUR光柵的基體可為鋼帶，玻璃或玻璃陶瓷。也有限位開(kāi)關(guān)。
PP	二維坐標(biāo)測(cè)量 PP二維編碼器的測(cè)量基準(zhǔn)是平面DIADUR工藝制造的相位光柵，采用干涉掃描方法。用于測(cè)量平面中位置。
LIP/LIF	高真空和超高真空技術(shù) 我們的標(biāo)準(zhǔn)編碼器適用于低真空或中等真空應(yīng)用。高真空或超高真空應(yīng)用的光柵尺需要滿足一些特殊要求。采用的設(shè)計(jì)和材質(zhì)必須滿足應(yīng)用要求。更多信息，參見(jiàn)“真空中應(yīng)用的直線光柵尺”產(chǎn)品信息。以下敞開(kāi)式直線光柵尺于高真空或超高真空應(yīng)用環(huán)境。 • 高真空：LIP 481 V和LIF 481 V • 超高真空：LIP 481 U

海德漢敞開(kāi)式直線光柵尺的全新信號(hào)處理ASIC芯片

海德漢敞開(kāi)式直線光柵尺是*精度定位或高準(zhǔn)確性運(yùn)動(dòng)的理想選擇。為確保光柵尺在整個(gè)生命周期中都滿足高精度要求，海德漢xin開(kāi)發(fā)了全新ASIC信號(hào)處理芯片：HSP 1.0。有關(guān)該芯片如何接近*地補(bǔ)償信號(hào)變化和恢復(fù)初的信號(hào)質(zhì)量，請(qǐng)看視頻。

敞開(kāi)式直線光柵尺德國(guó)海德漢Heidenhain

LIC 4100

型號(hào)	基線誤差		基體和安裝方式	細(xì)分誤差	測(cè)量長(zhǎng)度
	精度等級(jí)	局部
LIC 4113 LIC 4193	± 3 μm ± 5 μm	≤ ± 0.275 μm/ 10 mm	玻璃或玻璃陶瓷光柵尺，嵌入在安裝面中	± 20 nm	240 mm 至3040 mm
LIC 4115 LIC 4195	± 5 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并預(yù)緊	± 20 nm	140 mm 至 28440 mm
LIC 4117 LIC 4197	± 3 μm ± 5 μm ± 15 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并固定	± 20 nm	240 mm 至 6040 mm
LIC 4119 LIC 4199	± 3 μm ± 15 μm	≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)	鋼帶光柵尺粘貼在安裝面上	± 20 nm	70 mm 至 1020 mm

LIC 2100

型號(hào)	基線誤差		基體和安裝方式	細(xì)分誤差	測(cè)量長(zhǎng)度
	精度等級(jí)	局部
LIC 2117 LIC 2197	± 15 μm		鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并固定	± 2 μm	120 mm 至 3020 mm
LIC 2119 LIC 2199	± 15 μm		鋼帶光柵尺粘貼在安裝面上	± 2 μm	120 mm 至 3020 mm

如有需要詳情，請(qǐng)見(jiàn)： 敞開(kāi)式直線光柵尺